[发明专利]时间温度传感器位置偏移误差校正

权利要求书

1.一种校正裸片上的热传感器测量值的方法，其包括：

从传感器接收区的温度测量值；

测量所述区的活动，所测量的活动包括流动于包含所述裸片的装置中的电流或包含所述裸片的所述装置的性能，所述性能至少部分基于确定高速缓存未命中的数量或管线暂停的数量；

将所测量的活动转化为所述区的功率；

通过参考所存储的热量模型参数来解释所述区的所述功率或所述活动来导出温度偏移；以及

至少部分地基于所述温度偏移调节所述温度测量值。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述所存储的热量模型参数包含与温度差匹配的所估计的功率。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述所存储的热量模型参数包含与绝对温度匹配的所估计的功率。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述所测量的活动包括电流流动穿过电源开关。

5.根据权利要求1所述的方法，其中所述所测量的活动包括至少部分地基于所述裸片的所述装置的所述性能。

6.根据权利要求5所述的方法，其中所述性能的测量值是至少部分地基于性能计数器确定的。

7.根据权利要求1所述的方法，其中所述活动的测量以及所述区所消耗的功率转换是通过数字功率监测器/计量器执行的。

8.一种用于校正裸片上的热传感器测量值的设备，其包括：

用于从传感器接收区的温度测量值的装置；

用于测量所述区的活动的装置，所测量的活动包括流动于包含所述裸片的装置中的电流或包含所述裸片的所述装置的性能，所述性能至少部分基于确定高速缓存未命中的数量或管线暂停的数量；

用于将所测量的活动转化为所述区的功率的装置；

用于通过参考所存储的热量模型参数来解释所述区的所述功率或所述活动来导出温度偏移的装置；以及

用于至少部分地基于所述温度偏移调节所述温度测量值的装置。

9.根据权利要求8所述的设备，其中所述所存储的热量模型参数包含与温度差匹配的所估计的功率。

10.根据权利要求8所述的设备，其中所述所存储的热量模型参数包含与绝对温度匹配的所估计的功率。

11.根据权利要求8所述的设备，其中所述所测量的活动包括电流流动穿过电源开关或至少部分地基于所述裸片的所述装置的性能。

12.一种用于校正裸片上的热传感器测量值的设备，其包括：

存储器；以及

至少一个处理器，其耦合到所述存储器，所述至少一个处理器经配置以：

从传感器接收区的温度测量值；

测量所述区的活动，所测量的活动包括流动于包含所述裸片的装置中的电流或包含所述裸片的所述装置的性能，所述性能至少部分基于确定高速缓存未命中的数量或管线暂停的数量；

将所测量的活动转化为所述区的功率；

通过参考所存储的热量模型参数来解释所述区的所述功率或所述活动来导出温度偏移；以及

至少部分地基于所述温度偏移调节所述温度测量值。

13.根据权利要求12所述的设备，其中所述所存储的热量模型参数包含与温度差匹配的所估计的功率。

14.根据权利要求12所述的设备，其中所述所存储的热量模型参数包含与绝对温度匹配的所估计的功率。

15.根据权利要求12所述的设备，其中所述所测量的活动包括电流流动穿过电源开关。

16.根据权利要求12所述的设备，其中所述所测量的活动包括至少部分地基于所述裸片的所述装置的所述性能。