[发明专利]磁记录介质

说明书

一种用于记录/再现设备的磁记录介质，其最短记录波长不大于75nm，所述磁记录介质包括：包含含有ε‑氧化铁的颗粒的粉末的记录层，其中在磁记录介质的行进方向上测量的矩形比不大于30％，颗粒的平均最长直径D_max与颗粒的平均最短直径D_min的比率(D_max/D_min)满足1.0≤(D_max/D_min)≤1.1的关系，记录层的平均厚度δ_mag不大于100nm，并且记录层的平均厚度δ_mag与颗粒的平均最短直径D_min的比率(δ_mag/D_min)满足δ_mag/D_min≤5的关系。

技术领域

本技术涉及磁记录介质。

背景技术

对于高记录密度，通过使用与从记录磁头产生的磁场的记录层垂直的分量进行垂直记录是有效的。为了进行垂直记录，重要的是增加磁性粉末的垂直取向度(即，减小纵向取向度)。此外，在磁带的情形中，难以使用诸如硬盘介质之类的单个磁极头作为记录磁头，并且很有可能在未来也将使用现有格式的环形磁头。

作为垂直磁记录型磁记录介质的磁性粉末(下文中，称为“垂直磁记录介质”)，使用钡铁氧体磁性粉末。然而，由于钡铁氧体磁性颗粒具有板状形状，因而容易发生堆叠。在此，“堆叠”表示具有板状形状的磁性颗粒以其主表面彼此重叠的方式聚集。在发生堆叠的情况下，噪声增加并且C/N(载波噪声比)值减小。因此，期望提高其中通过使用环形磁头作为记录磁头来记录信号的垂直磁记录介质中的C/N值。

在专利文献1至3中，已经提出了通过改善钡铁氧体磁性粉末的分散性来提高C/N值的技术。

引用列表

专利文献

专利文献1：日本专利申请待审公开No.2002-298333

专利文献2：日本专利申请待审公开No.2009-99240

专利文献3：日本专利申请待审公开No.2002-373413

发明内容

技术问题

本技术的目的是提供一种能够提高C/N值的磁记录介质。

问题的解决方案

为了解决上述问题，本技术是一种用于记录/再现设备的磁记录介质，其最短记录波长不大于75nm，所述磁记录介质包括：包含含有ε-氧化铁的颗粒的粉末的记录层，其中在磁记录介质的行进方向上测量的矩形比不大于30％，颗粒的平均最长直径D_max与颗粒的平均最短直径D_min的比率(D_max/D_min)满足1.0≤(D_max/D_min)≤1.1的关系，记录层的平均厚度δ_mag不大于100nm，并且记录层的平均厚度δ_mag与颗粒的平均最短直径D_min的比率(δ_mag/D_min)满足δ_mag/D_min≤5的关系。

本发明的有益效果

根据本技术，可以提高磁记录介质的C/N值。应当注意，本文描述的效果不一定是限制性的，并且可以是本公开内容中描述的任何效果或者与它们不同的效果。

附图说明

图1是示出根据本技术第一实施方式的磁记录介质的构造的截面图。

图2是示出SFD曲线的示例的曲线图。