[发明专利]直接接触仪器校准系统

说明书

系统和方法，其用于校准具有工具以及工作表面的仪器。示例性仪器可以包括支撑构件，该支撑构件包括导电表面。所述仪器也可以包括流体传输设备，该流体传输设备包括具有开口端的导电管。所述仪器的驱动机构可以包括电机，该电机可操作用于沿轴相对于彼此驱动所述表面以及所述管的移动并使其彼此接触。所述仪器的电路可以包括电压源以及所述管。控制模块可以被配置为基于在所述电路的电特性中感测到的变化沿轴校准所述驱动机构与所述管和/或表面的位置之间的关系，该变化在所述管以及所述表面彼此接触时发生。

优先权申请的交叉引用

本申请根据35 U.S.C.§1 19(e)、基于并且要求于2016年2月1日提交的美国临时专利申请序列号62/289,908的权益，出于所有目的其全部内容通过引用并入本文。

其他材料的交叉引用

以下相关申请和材料的全部内入并入本文，出于所有目的：2006年5月9日授权的美国专利No.7,041,481；2010年7月8日公开的美国专利申请公开No.2010/0173394A1；2012年6月21日公开的美国专利申请公开No.2012/0152369A1；2012年7月26日公开的美国专利申请公开No.2012/0190032A1；2012年8月2日公开的美国专利申请公开No.2012/0194805A1；美国专利和Joseph R.Lakowicz，荧光光谱原理(第2版，1999年)(U.S.Patentand Joseph R.Lakowicz,PRINCIPLES OF FLUORESCENCE SPECTROSCOPY(2nd Ed.1999))。

技术领域

本公开涉及使用自动化过程来校准仪器以直接确定工具与工作表面之间的机械关系的的系统以及方法。

背景技术

通常使用运动轴上的传感器来校准仪器以提供固定的基准点。校准通常要求校准模式和/或经过专门培训的人员。相应地，一般在工厂中或技师呼叫服务期间，可能仅仅是偶尔进行校准。相应地，存在对改进的以及自动化的校准方法以及系统的需求。

发明内容

提供用于校准具有工具以及工作表面的仪器的系统和方法。示例性仪器可以包括支撑构件，该支撑构件包括导电表面。仪器也可以包括流体传输设备，该流体传输设备包括具有开口端的导电管。仪器的驱动机构可以包括电机，该电机可操作用于驱动表面和管相对于彼此的沿轴的移动并使其彼此相接触。仪器的电路可以包括电压源以及管。控制模块可以被配置为基于在电路的电特性的所感测到的变化沿轴校准驱动机构与管或表面的位置之间的关系，该变化在管以及表面彼此接触时发生。

附图说明

图1是根据本公开的各方面的具有直接接触校准系统的说明性仪器的示意性框图；

图2是根据本公开的各方面的说明性分压电路以及比较电路的电路图。

图3-5是示出包括图1的仪器的各方面的说明性分压电路的电路图。

图6-7是示出图2的比较电路的不同实施例的示意图。

图8是描绘用于校准具有直接接触校准系统的仪器的说明性过程的步骤的流程图。

具体实施方式

综述