[发明专利]发射功率控制方法、装置、存储介质及电子设备有效

专利信息
申请号: 201780002562.1 申请日: 2017-11-07
公开(公告)号: CN107995949B 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 骆磊 申请(专利权)人: 深圳达闼科技控股有限公司
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65;G01N21/01;G05B19/042
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 代理人: 魏嘉熹;南毅宁
地址: 518000 广东省深圳市前海深港合作区前*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 发射 功率 控制 方法 装置 存储 介质 电子设备
【说明书】:

本公开提出一种发射功率控制方法、装置、存储介质及电子设备,涉及物质检测领域,应用于检测装置,其特征在于,检测装置包括:温度传感器和激光发射器,该方法包括:在检测待测物质时,根据温度传感器采集的待测物质的温度,获取待测物质的温度变化信息,根据温度变化信息控制激光发射器的发射功率。能够在保证物质检测效率的前提下,合理控制激光发射器的发射功率,保护待测物质的完整度,提高检测装置的安全度。

技术领域

本公开涉及物质检测领域,尤其涉及一种发射功率控制方法、装置、存储介质及电子设备。

背景技术

拉曼检测设备利用拉曼散射来检测物质的成分,当前在多个领域都有应用,包括专业的石油勘探,药物检测,到生活中常见安全检查,缉毒等场景,同时,随着拉曼检测设备的成本不断下降,在民用市场也有了更多的应用,例如用于农药检测,真假货检测等。

目前拉曼检测设备的检测方法都需要将激光聚焦在待测物质上,积聚能量,而激光发射器的发射功率是依靠经验来设定的。因此在检测过程中,如果发射功率设置过高,如果待测物质是易燃易爆等危险爆炸品或化学品,则检测过程可能会出现待测物质温度过高发生燃烧、爆炸等问题,导致待测物质被损坏而检测失败,甚至对检测设备及使用者造成伤害。如果发射功率设置过低,对应的检测积分时长会延长,降低检测效率。

发明内容

本公开提供一种发射功率控制方法、装置、存储介质及电子设备,用于解决激光发射器的发射功率设置不准确,导致待测物质被损坏、检测效率低的问题。

为了实现上述目的,根据本公开实施例的第一方面,提供一种发射功率控制方法,应用于检测装置,其特征在于,所述检测装置包括:温度传感器和激光发射器,所述方法包括:

在检测待测物质时,根据所述温度传感器采集的待测物质的温度,获取所述待测物质的温度变化信息;

根据所述温度变化信息控制所述激光发射器的发射功率。

根据本公开实施例的第二方面,提供一种发射功率控制装置,应用于检测装置,其特征在于,所述检测装置包括:温度传感器和激光发射器,所述装置包括:

温度采集模块,用于在检测待测物质时,根据所述温度传感器采集的待测物质的温度,获取所述待测物质的温度变化信息;

控制模块,用于根据所述温度变化信息控制所述激光发射器的发射功率。

根据本公开实施例的第三方面,提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中包括一个或多个程序,所述一个或多个程序用于执行本公开实施例的第一方面所述的方法。

根据本公开实施例的第四方面,提供一种物质检测装置,包括:本公开实施例的第三方面所述的计算机可读存储介质;以及

一个或者多个处理器,用于执行所述计算机可读存储介质中的程序。

本公开通过上述技术方案,通过在检测装置上设置温度传感器,能够在进行物质检测时,实时地获取被激光照射的待测物质的温度变化信息,并根据温度变化信息实时地控制激光发射器的发射功率。能够在保证物质检测效率的前提下,合理控制激光发射器的发射功率,既能够避免由于待测物质温度过高导致的待测物质被损坏以及对检测装置使用者造成损伤的问题,又能够避免由于发射功率过低导致的检测效率低的问题,从而能够保护待测物质的完整度,并提高检测装置的安全度。

附图说明

图1a是根据本公开一示例性实施例提供的一种发射功率控制方法的流程图;

图1b是根据图1a所示的发射功率控制方法中检测装置的位置关系示意图;

图2是根据本公开一示例性实施例提供的另一种发射功率控制方法的流程图;

图3是根据本公开一示例性实施例提供的另一种发射功率控制方法的流程图;

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