[发明专利]异形元器件高压水密性功能测试仪

说明书

本发明公开了一种异形元器件高压水密性功能测试仪，包括：密封水箱，该密封水箱包括箱体与盖体；拨动机构，该拨动机构包括设于箱体外部的驱动组件及设于箱体内部的拨动组件；以及用于承载待测元器件的载台，其设于密封水箱内，其中，箱体在其上部敞开以形成有用于装入和取出元器件的敞口，盖体连接到箱体的上部以对所述敞口形成密封。根据本发明，其在提高测试高压水环境状态下异形元器件的电学性能的同时，还能够同时测试该异型元器件在拨动时的力学性能，两项测试同时进行，大大缩短了测试周期，也减少了元器件由于反复装载导致的元器件损坏，降低了生产成本，此外，增加了箱体的密封性及排水注水效率，降低了测试误差，提高了测试效率。

技术领域

本发明涉及元器件高压水密性功能测试领域，特别涉及一种异形元器件高压水密性功能测试仪。

背景技术

对于一些元器件，往往在生产完成后至出厂前，需要对其进行高压下的水密性功能测试，例如测试一些力学性能及电学性能是否满足设计需求及产品质量要求。

在现有的元器件高压水密性功能测试仪中，大多数仅仅能够测试元器件的水密性功能，由于异形元器件外形结构复杂、形状不唯一，当要进行一些力学性能测试时，往往显得较为局限，正因如此，现有的元器件高压水密性功能测试仪仅能先测试一项性能，当测试完一项性能后，再将元器件转到下个载台中进行另一项性能测试，这就大大增加了测试时间，及反复装载对元器件的损害，除此之外，现有的元器件高压水密性功能测试仪其箱体密封性能较差，容易导致测试误差较大，排水注水效率低下，容易出现排水不净的问题。

有鉴于此，实有必要开发一种异形元器件高压水密性功能测试仪，用以解决上述问题。

发明内容

针对现有技术中存在的不足之处，本发明的目的是提供一种异形元器件高压水密性功能测试仪，其在提高测试高压水环境状态下异形元器件的电学性能的同时，还能够同时测试该异型元器件在拨动时的力学性能，两项测试同时进行，大大缩短了测试周期，也减少了元器件由于反复装载导致的元器件损坏，降低了生产成本，此外，增加了箱体的密封性及排水注水效率，降低了测试误差，提高了测试效率。

为了实现根据本发明的上述目的和其他优点，提供了一种异形元器件高压水密性功能测试仪，包括：

密封水箱，该密封水箱包括箱体与盖体；

拨动机构，该拨动机构包括设于箱体外部的驱动组件及设于箱体内部的拨动组件；以及

用于承载待测元器件的载台，其设于密封水箱内，

其中，箱体在其上部敞开以形成有用于装入和取出元器件的敞口，盖体连接到箱体的上部以对所述敞口形成密封。

优选的是，拨动组件包括：

与驱动组件传动连接的安装座；以及

安装于安装座上的若干个拨动杆，

其中，载台设于拨动杆的正下方，拨动杆与载台上的待测元器件选择性配接，驱动组件可沿X轴方向往复传输动力，当拨动杆与载台上的待测元器件处于配接状态时，驱动拨动杆在驱动组件的驱动下沿X轴方向作往复直线运动以拨动载台上的待测元器件。

优选的是，箱体的正下方支撑有箱体支架，箱体包括：

设于箱体支架上的底壁；以及

设于底壁边缘处的侧壁，

其中，底壁与侧壁一体式地结合以形成上部敞开的容器。

优选的是，侧壁上开设有连通箱体内外的注气口及注水口，底壁上开设有连通箱体内外的排水口，其中，注气口的所在平面高于注水口的所在平面，注气口上连接有用于检测气压压力的气压传感器，侧壁上设有用于检测水位高度的液位检测传感器。