[实用新型]辐射检查系统有效

专利信息
申请号: 201721843454.0 申请日: 2017-12-26
公开(公告)号: CN207816856U 公开(公告)日: 2018-09-04
发明(设计)人: 杨祎罡;王东宇;于昊;宋全伟;李荐民;王伟珍;李玉兰;宗春光;张勤俭;曾鸣;陈志强;李元景;张丽 申请(专利权)人: 清华大学;同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00;G01V5/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 艾春慧
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 射束 准直 调制装置 辐射检查系统 本实用新型 辐射源 出射 调制 位置可变 扇形束 笔形 可动 检查
【说明书】:

实用新型公开了一种辐射检查系统。辐射检查系统包括辐射源和射束调制装置,射束调制装置包括设置于辐射源的射束出射侧的第一准直结构和设置于第一准直结构的射束出射侧的第二准直结构,第二准直结构与第一准直结构相对可动地设置以改变第一准直结构的第一准直口和第二准直结构的第二准直口的相对位置,使射束调制装置在第一工作状态和第二工作状态之间切换,其中,在第一工作状态,射束调制装置将初始射束调制为扇形束,在第二工作状态,射束调制装置将初始射束调制为位置可变的笔形束。本实用新型的辐射检查系统可以兼顾检查效率和检查精度。

技术领域

本实用新型涉及辐射检查技术领域,特别涉及一种辐射检查系统。

背景技术

在安全检查领域,物质识别,特别是对如毒品、爆炸物等违禁品的识别具有非常重要的意义。

对于藏匿在大型物品例如集装箱中的爆炸物品的检测,需要两个基本的条件:穿透能力强,即能够穿透集装箱的铁皮,并达到被检测物品的一定深度;能够获取爆炸物的特征信息,例如元素组成。

基于X射线源的辐射检查系统进行物质识别的原理是利用含不同原子系数元素的物质对X射线的不同吸收曲线来识别,需利用两种或以上能量的X射线同时成像。这种辐射检查系统可区分高原子系数和低原子系数的物质,进而区分有机物和无机物。

另外,可通过基于中子的辐射检查系统检查违禁品。中子的穿透能力较强,同时,通过探测与分析中子与被检查物体发生反应后放出γ射线的能谱,可以检测违禁品是否存在。基于中子的辐射检查系统即能够穿透大型物品又能进行元素分析。因此,利用中子检查方式进行大型物品中的爆炸物或毒品等违禁品检查具有很大的优势。

在利用中子检查方式探测违禁品的过程中,利用元素分析技术判断有机物的元素组成。利用中子与物质的相互作用进行物质识别,基于违禁品的元素含量特征和中子与原子核的反应机理,通过探测被检测物的特征γ能谱,计算出物质中H、C、N、O、Cl等有机物的元素的组成和比例关系,识别物质,达到违禁品检查的目的。

以检查爆炸物和毒品为例:

对于爆炸物的检查。爆炸物的元素组成通常为C、H、N、O,而且具有N和O的含量较高,H和C的含量很少的特点,通过探测与分析中子与被检测物体发生反应后放出γ射线的能谱,可以检测爆炸物是否存在。

对于毒品的检查。在许多毒品的制备过程中,需要含氯物质的参与,如盐酸、三氯甲烷、二氯甲烷、二氯乙烷、二氯乙烯等,因此氯也会出现在很多制成的毒品中。通过分析H、N、Cl等元素的比例关系来对毒品/易制毒物质存在的可能性和种类进行判断。

在现有辐射检查系统中,有的通过扇形束对被检查对象进行检查,有的通过笔形束对被检查对象进行检查,二者均不能兼顾检查效率和检查精度。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种辐射检查系统,旨在兼顾检查效率和检查精度。

本实用新型提供一种辐射检查系统,包括用于发射初始射束的辐射源和用于将所述初始射束调制为扫描射束的射束调制装置,其特征在于,所述射束调制装置包括设置于所述辐射源的射束出射侧的第一准直结构和设置于所述第一准直结构的射束出射侧的第二准直结构,所述第一准直结构包括第一准直口,所述第二准直结构包括第二准直口,所述第二准直结构与所述第一准直结构相对可动地设置以改变所述第一准直口和所述第二准直口的相对位置,使所述射束调制装置在第一工作状态和第二工作状态之间切换,其中,在所述第一工作状态,所述射束调制装置将所述初始射束调制为扇形束,在所述第二工作状态,所述射束调制装置将所述初始射束调制为位置可变的笔形束。

进一步地,在所述第二工作状态,所述第二准直结构与所述第一准直结构可相对平移和/或可相对转动以改变所述第二准直口与所述第一准直口的垂直于所述初始射束的出射方向的交叉位置,从而改变所述笔形束的位置。

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