[实用新型]光阻涂布槽清洗装置有效

专利信息
申请号: 201721842397.4 申请日: 2017-12-25
公开(公告)号: CN207857493U 公开(公告)日: 2018-09-14
发明(设计)人: 徐猛;黄志凯 申请(专利权)人: 德淮半导体有限公司
主分类号: B08B9/093 分类号: B08B9/093
代理公司: 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 代理人: 孙佳胤
地址: 223300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 光阻涂布 清洗装置 清洗组件 槽壁 本实用新型 轨道运动 清洗液 轨道 清洗 半导体制造技术 喷射气体 清洗效率 人力成本 生产效率 晶圆 停机 外周 喷射 环绕
【说明书】:

本实用新型涉及半导体制造技术领域,尤其涉及一种光阻涂布槽清洗装置。所述光阻涂布槽清洗装置,包括:轨道,环绕一光阻涂布槽的外周设置;第一清洗组件,与第二清洗组件先后进入所述轨道,且能够沿所述轨道运动,用于向光阻涂布槽的槽壁喷射清洗液;第二清洗组件,连接所述轨道且能够沿所述轨道运动,用于向所述槽壁喷射气体,以干燥位于所述槽壁上的清洗液。本实用新型提高了光阻涂布槽的清洗效率,节省了光阻涂布槽清洗的人力成本;同时减少了因清洗光阻涂布槽造成的停机时间,提高了晶圆的生产效率。

技术领域

本实用新型涉及半导体制造技术领域,尤其涉及一种光阻涂布槽清洗装置。

背景技术

目前,半导体集成电路(IC)产业已经经历了指数式增长。IC材料和设计中的技术进步已经产生了数代IC,其中,每代IC都比前一代IC具有更小和更复杂的电路。在IC发展的过程中,功能密度(即每一芯片面积上互连器件的数量)已普遍增加,而几何尺寸(即使用制造工艺可以产生的最小部件)却已减小。除了IC部件变得更小和更复杂之外,在其上制造IC的晶圆变得越来越大,这就对晶圆的质量要求越来越高。

在晶圆的制造过程中,需要经过多步工艺,例如表面清洗、初次氧化、化学气相沉积镀膜、化学机械研磨、光刻、退火、离子注入等。其中,光刻技术是指在光照作用下,借助光阻(又名光致刻蚀剂、光刻胶)将掩膜版上的图形转移到晶圆上的技术。

在光刻过程中,光阻的涂布是至关重要的一步。一般来说,光阻的涂布是在光阻涂布槽中进行的。现有的光阻涂布槽包括转轴、承载台和槽壁,所述转轴连接所述承载台,所述承载台用于承载晶圆,所述侧壁环绕所述承载台设置。在光阻涂布槽中对晶圆进行光阻涂布的过程中,晶圆在所述转轴的带动下处于高速旋转的状态,一部分光阻在旋转过程中由于离心力的作用会自所述晶圆表面抛出,粘附于光阻涂布槽的槽壁上。当光阻在侧壁上的累积达到一定程度时,工作人员需要对所述侧壁进行清洗,以确保后续晶圆制程的顺利进行。但是,现有的侧壁清洗方法是依靠工作人员人工擦洗,这不仅增大了人力成本,而且人工清洗的时间较长,延长了光阻涂布槽的停机时间,降低了晶圆的生成效率。

因此,如何提高光阻涂布槽的清洗效率,节省人力成本,是目前亟待解决的技术问题。

发明内容

本实用新型提供一种光阻涂布槽清洗装置,用以解决现有的光阻涂布槽清洗效率低的问题,节省清洗光阻涂布槽的人力成本,同时提高晶圆的生产效率。

为了解决上述问题,本实用新型提供了一种光阻涂布槽清洗装置,包括:轨道,环绕一光阻涂布槽的外周设置;第一清洗组件,与第二清洗组件先后进入所述轨道,且能够沿所述轨道运动,用于向光阻涂布槽的槽壁喷射清洗液;第二清洗组件,连接所述轨道且能够沿所述轨道运动,用于向所述槽壁喷射气体,以干燥位于所述槽壁上的清洗液。

优选的,所述第一清洗组件包括第一喷头、第一支架和第一连接部;所述第一喷头,连接所述第一支架,用于向所述槽壁喷射清洗液;所述第一连接部,连接所述轨道,用于将所述第一支架从第一复位位置转移至所述轨道;所述第一支架用于沿所述轨道运动。

优选的,所述第一喷头呈弧形,且所述第一喷头能够沿所述第一支架的轴向进行升降运动。

优选的,所述第二清洗组件包括第二喷头、第二支架和第二连接部;所述第二喷头,连接所述第二支架,用于向所述槽壁喷射气体,以干燥位于所述槽壁上的清洗液;所述第二连接部,连接所述轨道,用于将所述第二支架从第二复位位置转移至所述轨道;所述第二支架用于沿所述轨道运动。

优选的,所述第二喷头呈弧形,且所述第二喷头能够沿所述第二支架的轴向进行升降运动。

优选的,还包括控制器,所述控制器,同时连接所述第一清洗组件和所述第二清洗组件,用于控制所述第一清洗组件、所述第二清洗组件先后进入所述轨道。

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