[实用新型]一种用于元器件测试的总线型矩阵切换装置用测试电路板

说明书

本实用新型涉及测控装置技术领域，公开一种用于元器件测试的总线型矩阵切换装置用测试电路板，测试电路板为矩形板卡，矩形板卡上一端设置的连接器J1、J2为高密度连接器，矩形板上另一端设置的连接器J3为25芯D型连接器，25芯D型连接器通过线束和被测试的元器件管脚连接；高密度连接器与25芯D型连接器之间设置有继电器组和跳线装置；继电器组包括Sig1‑Sig20信号接入控制继电器K1‑K21、上电控制继电器K22、ERR信号控制继电器K23；继电器组一侧设置有跳线装置，跳线装置包括选通信号跳线装置JP11‑JP20和故障信号跳线装置JP21‑JP30。本实用新型的电路板设计结构简单，制作使用方便。即满足多路信号切换的需求，又兼具CPCI总线的高可靠性。

技术领域

本实用新型涉及测控装置技术领域，尤其是涉及一种用于元器件测试的总线型矩阵切换装置用测试电路板。

背景技术

在工业，航空，军工等元器件测试领域，有多路模拟和数字信号需要测试，由于测量仪器的通道数量有所限制，往往通过设计制作规格众多、数量众多的继电器矩阵切换板来实现复杂的切换功能。当切换的路数达到一定数量时，一种是制作面积更大的矩阵电路板，电路板几何尺寸将增大，各输入信号端口到切换后的输出端口的距离差将增大，各信号通道的电长度不同，由此带来的信号延迟差别增大，最终导致测量误差增大；另一种是层叠矩阵电路板，这样会带来电路板之间的连线过于繁琐复杂，串扰增加，电气性能将继续恶化，过于复杂的电路板可靠性也将降低。

发明内容

为了克服背景技术中的不足，本实用新型提供一种用于元器件测试的总线型矩阵切换装置用测试电路板。

为实现上述发明目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种用于元器件测试的总线型矩阵切换装置用测试电路板，测试电路板为矩形板卡，矩形板卡上一端设置的连接器J1、J2为高密度连接器，矩形板上另一端设置的连接器J3为25芯D型连接器，25芯D型连接器通过线束和被测试的元器件管脚连接；高密度连接器与25芯D型连接器之间设置有继电器组和跳线装置；继电器组包括Sig1-Sig20信号接入控制继电器K1-K21、上电控制继电器K22、ERR信号控制继电器K23；继电器组一侧设置有跳线装置，跳线装置包括选通信号跳线装置JP11-JP20 和故障信号跳线装置JP21-JP30。

一种用于元器件测试的总线型矩阵切换装置用测试电路板，所述矩形板卡厚1.6mm，板卡信号层数为6层：内外层为1OZ，1、3、4、6层为信号层，用来传输模拟信号、控制信号和状态信号，2层为电源层+12V， 5层为地层。

由于采用如上所述的技术方案，本实用新型具有如下有益效果：

本实用新型利用3U高度CPCI总线计算机的结构形式，采用板卡和母板的形式，板卡和母板结构尺寸按3U高度CPCI标准，总线信号重新设计，连接器各管脚的信号重新定义，使其成为新的总线形式，以此制作总线型矩阵切换控制装置，即满足多路信号切换的需求，又兼具CPCI总线的高可靠性。其电路板设计结构简单，制作使用方便。

附图说明

图1为用于元器件测试的总线型矩阵切换装置用测试电路板的结构示意图。

具体实施方式

如图1所示，一种用于元器件测试的总线型矩阵切换装置用测试电路板，测试电路板为矩形板卡，矩形板卡上一端设置的连接器J1、J2为高密度连接器，矩形板上另一端设置的连接器J3为25芯D型连接器，25 芯D型连接器通过线束和被测试的元器件管脚连接；高密度连接器与25 芯D型连接器之间设置有继电器组和跳线装置；继电器组包括Sig1-Sig20信号接入控制继电器K1-K21、上电控制继电器K22、ERR信号控制继电器K23；继电器组一侧设置有跳线装置，跳线装置包括选通信号跳线装置 JP11-JP20和故障信号跳线装置JP21-JP30。