[实用新型]一种鳞式测温套管有效

专利信息
申请号: 201721512559.8 申请日: 2017-11-14
公开(公告)号: CN207379621U 公开(公告)日: 2018-05-18
发明(设计)人: 宋永刚;潘多明;过金龙;胡旭;王岩;张博;戚海龙;张兆东;刘小品 申请(专利权)人: 新特能源股份有限公司
主分类号: G01K1/08 分类号: G01K1/08;G01K1/12;G01K1/10
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 罗建民;邓伯英
地址: 830011 新疆维吾尔自治区乌鲁木齐国*** 国省代码: 新疆;65
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摘要:
搜索关键词: 一种 测温 套管
【说明书】:

实用新型提供一种鳞式测温套管,其包括中空的套管本体、多个陶瓷鳞片和密封部件,测温元件放置在金属材质的套管本体内部,所述套管本体的一端伸入至反应炉的炉体内部、另一端通过安装法兰固定在所述炉体上,且所述套管本体上与反应物料相接触的部分覆盖有陶瓷鳞片,所述密封部件设置在鳞式测温套管的远离所述安装法兰的端部,以实现套管本体的端部密封和陶瓷鳞片的固定。本实用新型所述鳞式测温套管能够同时耐硅粉冲刷、耐高速气流冲击和耐反应炉长期高温。

技术领域

本实用新型涉及化工生产技术领域,具体涉及一种耐磨耐冲刷的鳞式测温套管。

背景技术

目前,国内多晶硅行业价格处于低端徘徊期,“降低单产成本,提高产品质量”成为每一个企业的核心理念。三氯氢硅反应炉中安放有多晶硅生产中的原材料加工、生产装置,其关键设备反应炉运行时间的长短直接影响分公司多晶硅的正常生产。

反应炉自投用以来经常受到锥体温度的影响,主要存在的问题有:锥体测温套管被硅粉冲刷、腐蚀而损坏,锥体测温套管受高速气流冲击发生弯曲变形,从而导致测温元件无法正常测温;受反应炉长期高温影响而缩短测温套管的使用寿命;锥体测温套管发生故障后反应炉被迫停炉检修,影响反应炉长周期运行;测温套管被冲刷磨穿后会有物料泄漏,引发工艺或安全事故等,这些问题均是困扰多晶硅反应炉长周期稳定运行的一个技术性难题。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是针对现有技术中所存在的上述缺陷,提供一种能够同时耐硅粉冲刷、耐高速气流冲击和耐反应炉长期高温的鳞式测温套管。

解决本实用新型技术问题所采用的技术方案是:

本实用新型提供一种鳞式测温套管,其包括中空的套管本体、至少多个陶瓷鳞片和密封部件,测温元件放置在金属材质的套管本体内部,所述套管本体的一端伸入至反应炉的炉体内部、另一端通过安装法兰固定在所述炉体上,且所述套管本体上与反应物料相接触的部分覆盖有陶瓷鳞片,所述密封部件设置在鳞式测温套管的远离所述安装法兰的端部,以实现套管本体的端部密封和陶瓷鳞片的固定。

可选地,所述套管本体依次划分为法兰固定段、中间段和鳞片固定段,所述法兰固定段的一端从所述安装法兰中部通孔向炉体外部伸出、另一端与所述安装法兰的靠近炉体的端面平齐并与中间段的一端相接,所述中间段的另一端与鳞片固定段的一端相接,所述鳞片固定段上覆盖有陶瓷鳞片,其另一端为自由端。

可选地,所述中间段的外径大于鳞片固定段的外径。

可选地,所述中间段的外径为25-32mm,所述鳞片固定段的外径为16-22mm。

可选地,所述中间段的长度为180-220mm,所述鳞片固定段的长度为450-550mm。

可选地,所述陶瓷鳞片采用具有一定长度的C形结构,且C形结构的开口朝上设置,各陶瓷鳞片依次套装在套管本体的与反应物料相接触的部分上,且内表面与套管本体的外表面贴合。

可选地,每个陶瓷鳞片的接近所述安装法兰的一端设有插接头、远离所述安装法兰的一端设有插接口,且相邻两个陶瓷鳞片的插接口与插接头相匹配以使得相邻两个陶瓷鳞片无缝插接,各个陶瓷鳞片依次插接后成为一体;所述套管本体的中间段与鳞片固定段相接的一端设有与中间段同心的环形凹槽,所述环形凹槽的内径与套管本体的鳞片固定段的外径相同,且距所述安装法兰最近的陶瓷鳞片能够伸入所述环形凹槽中并与其过盈配合。

可选地,每个陶瓷鳞片的长度为60-70mm、厚度为3-5mm、数量为6-8个,C形结构的开口角度为120-135°。

可选地,所述密封部件包括第一顶丝件和第二顶丝件,

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