[实用新型]一种超低本底α放射性测量装置有效

专利信息
申请号: 201721463635.0 申请日: 2017-11-06
公开(公告)号: CN207281295U 公开(公告)日: 2018-04-27
发明(设计)人: 唐琳;廖先莉;余松科 申请(专利权)人: 成都大学
主分类号: G01T1/167 分类号: G01T1/167
代理公司: 成都华风专利事务所(普通合伙)51223 代理人: 徐丰,张巨箭
地址: 610000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 本底 放射性 测量 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及核辐射测量的气体探测器领域,尤其涉及一种超低本底α放射性测量装置。

背景技术

低水平测量中由于样品计数率较低,测量系统自身的本底干扰是限制测量能力最重要的因素。这一部分本底主要由探测器内壁材料中的α放射性成分贡献,因此对超低本底多丝正比计数器的优化实际上就是对不同方向入射α粒子的筛选,只探测样品发射的α粒子,屏蔽测量系统发射的α粒子。

国内目前常用的流气式正比计数器结构如图1所示,假定α1为样品发射的α粒子;α2为与阳极丝平行的侧壁发射的α粒子;α3为与阳极丝垂直的侧壁发射的α粒子;α4为腔体上盖发射的α粒子,探测丝直径为微米级,相对于正比室它的放射性干扰我们可以忽略不计。其中α1为样品发射的需要被探测的α粒子,α2、α3和α4为测量系统发射的不希望被探测的本底。在低本底α测量中,测量系统本身的辐射干扰会对测量结果产生很大的影响,为了得到更高的测量效率,提出一种针对超低本底α放射性测量装置的优化方法是很有必要的。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足,提供一种超低本底α放射性测量装置,减少现有技术侧壁和上盖发射的α粒子影响测量的问题。

本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的:一种超低本底α放射性测量装置,包括外壳、探测丝、丝支撑、气嘴和绝缘子;所述的外壳底部设置有放置样品的安装腔;所述的探测丝的两端均设置有丝支撑,探测丝两端的丝支撑分别通过各自的绝缘子与外壳的两个相对的侧壁固定连接;所述的气嘴有两个,分别设置于外壳的另外两个侧壁上;所述的装置还包括屏蔽丝,所述的屏蔽丝的两端均设置有丝支撑,屏蔽丝两端的丝支撑也分别通过各自的绝缘子与外壳的两个相对的侧壁固定连接,屏蔽丝固定的侧壁与探测丝固定的侧壁相同;所述的探测丝接收样品发射的α粒子,所述的屏蔽丝接收外壳侧壁和外壳上盖发射的α粒子。

进一步地,所述的探测丝和屏蔽丝均与侧壁平行设置。

进一步地,所述的探测丝和屏蔽丝均为镀金钨丝。

进一步地,通过所述的气嘴进入测量装置内部的工作气体成分为100%的氩气。

本实用新型的有益效果是:本实用新型提供一种超低本底α放射性测量装置,在现有技术的基础之上,设置了用于接收测量装置的外壳侧壁和测量装置的外壳上盖发射的α粒子的屏蔽丝,对测量装置本身的放射性干扰起到了很好的屏蔽作用;甚至在优选设置后,可以完全屏蔽掉室内各个方向的放射性干扰,只探测样品的放射性。

附图说明

图1为现有技术结构示意图;

图2为本实用新型其中一个方向剖面示意图;

图3为本实用新型另外一个方向剖面示意图;

图4为本实施例的Garfield模拟的电子漂移路径图;

图中,1-外壳,2-样品,3-探测丝,4-屏蔽丝,5-气嘴,6-丝支撑,7-绝缘子,8-侧壁,9-上盖。

具体实施方式

下面结合附图进一步详细描述本实用新型的技术方案,但本实用新型的保护范围不局限于以下所述。

如图2和图3所示,一种超低本底α放射性测量装置,包括外壳1、探测丝3、丝支撑6、气嘴5和绝缘子7;所述的外壳1底部设置有放置样品2的安装腔;所述的探测丝3的两端均设置有丝支撑6,探测丝3两端的丝支撑6分别通过各自的绝缘子7与外壳1的两个相对的侧壁8固定连接;所述的气嘴5有两个,分别设置于外壳1的另外两个侧壁8上;所述的装置还包括屏蔽丝4,所述的屏蔽丝4的两端均设置有丝支撑6,屏蔽丝4两端的丝支撑6也分别通过各自的绝缘子7与外壳1的两个相对的侧壁8固定连接,屏蔽丝4固定的侧壁8与探测丝3固定的侧壁8相同;所述的探测丝3接收样品2发射的α粒子,所述的屏蔽丝4接收外壳1侧壁8和外壳1上盖9发射的α粒子。

更优地,在本实施例中,所述的探测丝3和屏蔽丝4均与侧壁8平行设置。

更优地,在本实施例中,所述的探测丝3和屏蔽丝4均为镀金钨丝。

更优地,在本实施例中,通过所述的气嘴5进入测量装置内部的工作气体成分为100%的氩气。

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