[实用新型]一种用于磁通门磁芯性能检测装置有效
申请号: | 201721311130.2 | 申请日: | 2017-10-11 |
公开(公告)号: | CN207366720U | 公开(公告)日: | 2018-05-15 |
发明(设计)人: | 杜爱民;赵琳;孙树全;曹馨;冯晓;李智 | 申请(专利权)人: | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
主分类号: | G01R33/12 | 分类号: | G01R33/12 |
代理公司: | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人: | 刘杰 |
地址: | 100020 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 磁通门磁芯 性能 检测 装置 | ||
1.一种用于磁通门磁芯性能检测装置,其特征在于,包括:
屏蔽筒,所述屏蔽筒为圆柱形,多层结构,每层结构均有上盖,所述多层屏蔽筒固定在支架结构上,用于屏蔽外界磁场的信号,在屏蔽筒内形成零场环境;
旋转单元,固定在支架结构上,包括电机和旋转轴,并通过旋转轴与检测平台相连,用于为检测平台提供旋转动力;
检测平台,固定在屏蔽筒内的旋转轴上,用于安装待测磁芯;
支架结构,包括底座、侧架和顶架,与屏蔽筒、旋转单元和电子箱相连,用于为整个磁通门磁芯检测装置提供支撑结构。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括电路模块,用于为旋转单元和检测平台供电并提供电信号通路。
3.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述旋转单元的电机通过变速齿轮组与旋转轴相连,所述变速齿轮组的档位可调。
4.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述检测平台可以安装多个待测磁芯。
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