[实用新型]测量装置有效

专利信息
申请号: 201721184835.2 申请日: 2017-09-15
公开(公告)号: CN207280428U 公开(公告)日: 2018-04-27
发明(设计)人: 文庭祥 申请(专利权)人: 意力(广州)电子科技有限公司
主分类号: G01B21/24 分类号: G01B21/24
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 代理人: 刘静
地址: 510663 广东省广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种测量装置,用于测量平面的平行度,其特征在于,包括:滑轨、支撑滑轨的支架以及安装于滑轨上的测量仪表,所述测量仪表和支架均与所述滑轨滑动连接;所述支架包括与待测量平面接触的底板,所述底板上设有至少一条凹槽。

2.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述支架上设有第一滑块,所述支架通过第一滑块与所述滑轨滑动配合;和/或所述测量仪表上设有第二滑块,所述测量仪表通过第二滑块与所述滑轨滑动配合。

3.根据权利要求2所述的测量装置,其特征在于,所述滑轨上沿其长度方向设有滑槽,所述滑块设有与所述滑轨配合的凹部,所述凹部还包括与所述滑槽配合的凸起,所述凹部的壁面与所述滑轨匹配,所述凸起与滑槽卡合。

4.根据权利要求2所述的测量装置,其特征在于,所述第一滑块与所述支架通过螺丝固定连接;和/或所述第二滑块与所述测量仪表通过螺丝固定连接。

5.根据权利要求2所述的测量装置,其特征在于,所述滑轨两端端部均设有防止第一滑块和/或第二滑块掉落滑轨的限位部。

6.根据权利要求2所述的测量装置,其特征在于,所述第一滑块与所述支架的连接面上设有一层粘附层;和/或所述第二滑块与所述测量仪表的连接面上设有一层粘附层。

7.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述支架的数量为两个,两个所述支架滑动设于所述滑轨上,且所述测量仪表滑动设于两个支架之间。

8.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述支架还包括与所述底板垂直设置的连接架,所述连接架与所述滑轨滑动连接。

9.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述支架为T型支架或工字型支架。

10.根据权利要求1-9任一项所述的测量装置,其特征在于,所述滑轨的两端端部分别设有防止支架或测量仪表滑脱的限位部。

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