[实用新型]第四轴中心高检具有效
申请号: | 201721146430.X | 申请日: | 2017-09-08 |
公开(公告)号: | CN207189321U | 公开(公告)日: | 2018-04-06 |
发明(设计)人: | 宇金龙;熊宇虹;文建军 | 申请(专利权)人: | 昆山冠品优精密机械有限公司 |
主分类号: | B23Q17/20 | 分类号: | B23Q17/20 |
代理公司: | 昆山中际国创知识产权代理有限公司32311 | 代理人: | 尤天珍 |
地址: | 215300 江苏省苏州市昆山*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 第四 心高 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种检具,特别涉及一种第四轴中心高检具。
背景技术
在CNC加工中为了实现一次装夹多个面都可加工,需要使用第四轴治具,在三轴联动的基础上形成四轴加工,而第四轴治具在加工过程中用于定位工件的法兰盘需要精确进行加工,在法兰盘外圆进行加工时,需要保证第四轴中心与底座底面的高度距离,然而该距离很难检测,往往需要将整个载具从加工机床上拆卸下来进行投影检测等方式进行检测,检测效率低,且反复拆装影响加工精度。
实用新型内容
为了克服上述缺陷,本实用新型提供了一种第四轴中心高检具,该第四轴中心高检具结构简单,使用方便,采用该第四轴中心高检具的第四轴中心高检测方法检测效率高,检测结果精度高。
本实用新型为了解决其技术问题所采用的技术方案:一种第四轴中心高检具,包括检测平台、标准块和测距装置,所述标准块能够定位放置于检测平台表面上,且标准块下端表面紧贴检测平台上侧的水平面,测距装置能够检测标准块上端表面到检测平台上侧的水平面的距离以及第四轴底座背向第四轴轴线一侧的水平面到法兰圆盘外圆最高点的距离。
作为本实用新型的进一步改进,还设有安装支架,所述安装支架上设有一水平定位面,该水平定位面能够紧贴标准块上端平面。
作为本实用新型的进一步改进,所述安装支架为由相互垂直的水平臂和竖直臂组成的L形结构,测距装置固定安装于竖直臂上。
作为本实用新型的进一步改进,所述测距装置为光栅尺。
作为本实用新型的进一步改进,所述光栅尺与竖直方向存在3°-5°的夹角,且处于标准块测量状态的光栅尺下端相对于上端更靠近标准块。
作为本实用新型的进一步改进,所述竖直臂上设有一上端和一侧面开口的安装槽,该安装槽下侧面上设有一穿孔,所述光栅尺的主体恰能够容置于安装槽内,光栅尺的测量杆穿过安装槽下侧面上的穿孔。
作为本实用新型的进一步改进,还设有一调节块和调节驱动装置,该调节块能够沿水平面上朝向标准块方向滑动定位于竖直臂下端,调节块上设有能够供光栅尺测量杆穿设的插孔,该插孔与安装槽下侧面上穿孔位置正对,且所述穿孔直径大于光栅尺测量杆外径,所述调节驱动装置安装于安装支架上,调节驱动装置驱动调节块运动。
作为本实用新型的进一步改进,所述调节驱动装置为螺栓,螺栓与竖直臂圆周方向能够转动且轴向止动的连接,螺栓与调节块螺接。
作为本实用新型的进一步改进,还设有显示屏,所述显示屏能够显示测距装置测量的距离数值。
本实用新型的有益效果是:本实用新型通过测量装置先对标准块的高度进行检测,然后作为标准进行归零,然后再对第四轴底座底面与第四轴法兰盘外圆最高点之间的距离进行检测,获得两个距离的差置即为工人需要加工的标准,方便工人对工件进行实时在线检测,避免第四轴加工时反复拆卸和检测,检测效率高,检测精度高,有利于提高第四轴加工效率和加工精度。
附图说明
图1为本实用新型的测距装置立体图;
图2为本实用新型的测距装置主视图;
图3为本实用新型的测距装置左视图;
图4为本实用新型测距装置对标准块进行测量的状态图;
图5为本实用新型测量装置对第四轴进行测量的状态图。
具体实施方式
实施例:一种第四轴中心高检具,包括检测平台1、标准块2和测距装置3,所述标准块2能够定位放置于检测平台1表面上,且标准块2下端表面紧贴检测平台1上侧的水平面,测距装置3能够检测标准块2上端表面到检测平台1上侧的水平面的距离以及第四轴底座4背向第四轴轴线一侧的水平面到法兰圆盘5外圆最高点的距离。
通过测距装置3在检测平台1上对标准块2高度进行检测获得标准值,将该标准值归零后,再对第四轴底座4底面到第四轴法兰圆盘5外圆最高点的距离,这两个距离的差值即为第四轴中心高于标准值的差值,该装置在进行检测时,可以在第四轴加工过程中进行检测,无需对第四轴进行拆卸,实现了快速检测,且检测精度高,直接显示与标准值的差值,方便工人按照差值进行加工,无需工人再进行计算,提高了加工精度和加工效率。
还设有安装支架,所述安装支架上设有一水平定位面,该水平定位面能够紧贴标准块2上端平面,通过水平定位面与标准块2上端平面紧贴实现测距定位,此外也可以是将安装支架固定在测量平台上,通过调节安装支架高度,使安装支架上的指定刻度值与标准块2对齐,等等。
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