[实用新型]去溢料高压射水循环系统有效
申请号: | 201721103031.5 | 申请日: | 2017-08-31 |
公开(公告)号: | CN207253913U | 公开(公告)日: | 2018-04-20 |
发明(设计)人: | 陈四平 | 申请(专利权)人: | 惠州市胜镁半导体电子有限公司 |
主分类号: | B01D36/04 | 分类号: | B01D36/04;C02F9/02 |
代理公司: | 惠州创联专利代理事务所(普通合伙)44382 | 代理人: | 韩淑英 |
地址: | 516100 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 去溢料 高压 水循环 系统 | ||
技术领域
本实用新型涉及半导体封装领域,尤其涉及一种去溢料高压射水循环系统。
背景技术
在半导体封装工艺中,需要采用焊锡进行元件插脚的紧固,而焊锡的用量并不总是恰到好处,为了保证焊接质量,通常会在焊接时以较多的焊锡进行焊接,这样焊接完成后就会形成焊锡溢料,需要采用高压水射的方式去除焊锡溢料,而使用过的废水因含有大量锡渣,不能够重复利用,否则会损坏元件及高压水射的喷嘴,因此其用水成本非常高。
实用新型内容
针对上述问题,本实用新型提供的去溢料高压射水循环系统,包括用于对半导体封装产品进行射水去除焊锡溢料的高压射水座,与高压射水座连通的高压水泵;还包括依次连通的集水池、沉淀池、供水泵,过滤器;所述集水池设于高压射水座下方,所述过滤器连通于供水泵和高压水泵之间。
优选的,所述沉淀池内设有一隔板,沉淀池被隔板分隔为第一水处理池和第二水处理池;所述第一水处理第一水处理池与集水池连通,所述隔板的高度小于沉淀池的深度;所述供水泵与第二水处理池连通。
进一步的,所述第一水处理池上部设有三层滤网,所述集水池的出水口设于三层滤网上方。
本实用新型通过设置沉淀池对集水池中收集的废水进行沉淀处理,并通过过滤,去除水中的锡渣,再提供给高压射水座使用,实现了水的循环利用,大大降低了水的用量。
附图说明
图1是本实用新型提供的去溢料高压射水循环系统实施例结构示意图。
具体实施方式
为方便本领域的技术人员了解本实用新型的技术内容,下面结合附图及实施例对本实用新型做进一步的详细说明。
如图1所示去溢料高压射水循环系统,包括高压射水座1、集水池2、沉淀池3、供水泵4、过滤器5、高压水泵M;集水池2设于高压射水座1下方,高压射水座1对半导体封装产品进行高压射水去除其焊锡溢料,射出的水流带着锡渣落入集水池2中。
沉淀池3内设有一隔板30,沉淀池被隔板分隔为第一水处理池31和第二水处理池32,隔板30的高度小于沉淀池3的深度。第一水处理池31上部设有三层滤网33,集水池的出水口20设于三层滤网33上方,可将废水中的锡渣进行初步的滤除,废水经过三层滤网33后流入第一水处理池31中,由于锡渣密度大于水的密度,因此锡渣沉淀在第一水处理池31底部,较为洁净的水则位于第一水处理池31上部,随着水的持续注入,第一水处理池31上部的水从隔板30处溢出流入第二水处理池32中,供水泵4从第二水处理池32中吸取较洁净的水,并通过过滤器5再次过滤后提供给高压水泵M,高压水泵M将水加压后供给高压射水座1,从而实现水的循环利用。
以上为本实用新型的具体实现方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些显而易见的替换形式均属于本实用新型的保护范围。
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