[实用新型]用于微量样品X射线荧光光谱分析的样品架有效

专利信息
申请号: 201721036449.9 申请日: 2017-08-18
公开(公告)号: CN207181333U 公开(公告)日: 2018-04-03
发明(设计)人: 包世星;李瑞峰;何英华;邴淑秋;刘卫东;王磊;赵铁凯;徐冬梅 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 代理人: 王玉双,李岩
地址: 100007 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 用于 微量 样品 射线 荧光 光谱分析
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种杯形样品架,特别设计一种用于微量样品X射线荧光光谱分析的样品架。

背景技术

常规的X射线荧光光谱分析采用直径分别为20mm和30mm的样品环进行压片制样,制备该试样片分别需要1~2g和2~3g样品。对于微量样品特别是小于20mg的样品,通常采用加入粘合剂,例如硼酸或乙基(甲基)纤维素混合之,采用直径10mm样品环压片制样后进行分析,此制样方法的缺点是样品照射面积小,样品稀释倍数过大,不利于对样品中含量较低的元素进行测定。本工作采用一种自制的用于微量样品X射线荧光光谱分析的样品架,实现了用20mm样品盒对样品量小于20mg的试样进行直接分析,不存在稀释问题,含量较低的元素也可以被检测。实际应用表明:采用常规制样方法和本方法对同一样品进行分析,其结果一致。关于此工作,属首次报道。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于微量样品X射线荧光光谱分析的样品架,以期达到制样简便、省时、省力,提高分析效率,并能充分满足X射线荧光光谱分析技术的要求。

为了实现上述目的,本实用新型提供一种用于微量样品X射线荧光光谱分析的样品架,所述样品架包括:一圆杯体,所述圆杯体设有杯壁和杯底,在所述圆杯体杯壁周向方向分别开设两道环形凹槽,所述两道环形凹槽分别为第一道环形凹槽和第二道环形凹槽,所述第一道环形凹槽与所述第二道环形凹槽之间有间距,所述第一道环形凹槽靠近所述圆杯体顶部,所述第二道环形凹槽位于所述第一道环形凹槽与杯底之间,靠近杯底处的杯壁上开设多个贯通孔;

两层聚丙烯膜,在圆杯顶部覆盖第一层聚丙烯膜,用橡皮筋将所述第一层聚丙烯膜平整固定于第一道凹槽内,在所述第一层聚丙烯膜上放置待测试样品粉末,继续在圆杯顶部覆盖第二层聚丙烯膜,待测试样品粉末位于第一层聚丙烯膜与第二层聚丙烯膜之间。

所述的用于微量样品X射线荧光光谱分析的样品架,其特征在于,所述圆杯体的外径为34mm,杯壁厚5mm,杯高25mm,杯底厚3mm,所述第一道环形凹槽开设于距所述圆杯体的顶部5mm的杯壁上,所述第二道环形凹槽与所述第一道环形凹槽间隔5mm。

所述的用于微量样品X射线荧光光谱分析的样品架,其特征在于,所述第一道环形凹槽宽2mm、深2mm。

所述的用于微量样品X射线荧光光谱分析的样品架,其特征在于,所述第二道环形凹槽宽2mm、深2mm。

所述的用于微量样品X射线荧光光谱分析的样品架,其特征在于,所述贯通孔贯穿圆杯体的杯壁。

所述的用于微量样品X射线荧光光谱分析的样品架,其特征在于,所述贯通孔距离所述杯底上表面2mm,所述贯通孔直径为1mm。

所述的用于微量样品X射线荧光光谱分析的样品架,其特征在于,所述贯通孔设有3个,且3个贯通孔沿着圆杯体的杯壁周向方向均匀设置。

所述的用于微量样品X射线荧光光谱分析的样品架,其特征在于,所述第一层聚丙烯膜厚度为5μm,所述第二层聚丙烯膜厚度为5μm。

所述的用于微量样品X射线荧光光谱分析的样品架,其特征在于,所述样品架的材质为塑料。

所述的用于微量样品X射线荧光光谱分析的样品架,其特征在于,所述样品架为聚乙烯、聚丙烯或尼龙-6材料。

本实用新型的使用效果:

对于微量试样,例如,质量小于20mg的微量试样,可以非常方便地进行分析。

本实用新型样品架,微量样品置于两层5μm pp膜的中间部位,在进行后续的X射线荧光光谱分析时,所获取的样品X射线荧光光谱图符合X射线荧光光谱分析技术的要求。

本实用新型样品架制样过程简便、快速,可以提高分析效率;同时,省时、省力,分析能充分满足微量试样高效、快速、经济分析的要求,因而可在石化生产行业中推广应用。

附图说明

图1-1是本实用新型杯形样品架的左视图。

图1-2是本实用新型杯形样品架的正视图。

图1-3是本实用新型杯形样品架的俯视图。

图2-1采用本实用新型样品架制作的某样品A的微量试片的X射线荧光光谱分析图。

图2-2采用常规方法制作的某样品A的正常试片的X射线荧光光谱分析图。

图3-1采用本实用新型样品架制作的某样品B的微量试片的X射线荧光光谱分析图。

图3-2采用常规方法制作的某样品B的正常试片的X射线荧光光谱分析图。

其中附图标记为:

样品架1

杯壁11

第一道环形凹槽111

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