[实用新型]用于多接口的综合测试系统

说明书

本实用新型公开了本实用新型用于多接口的综合测试系统，用于多接口的综合测试系统，包括背板模块上设置有电源模块、PCI扩展槽、PCI功能卡和主板模块，背板模块与PC机通过NGA/DVI进行数据传输，PCI扩展槽内设置有若干个PCI‑e载卡，PCI‑e载卡内部设置有FMC扩展接口与外部模块连接。所述外部模块包括LVDS高速接口子模块、数字音频接口子模块、光纤接口子模块、扩展模块，所述高速接口子模块、光纤接口子模块通过PCIE高速总线进行数据传输，数字音频接口子模块接收PCI‑e载卡发送的数据进行音频输出。

技术领域

本实用新型涉及一种测试系统，具体涉及用于多接口的综合测试系统。

背景技术

现在很多测试系统上采用的接口都只能满足单一的功能。并且传输效率缓慢，常常各个模块间相互影响，传输数据的效率低，测试缓慢，进而影响工作效率，在工控机中采用的接口其传输数据的总线不匹配，数据间相互甲流比较困难。

本实用新型采用的用于多接口的综合测试系统具有测试多种接口的功能，在满足最少接口种类和数量的情况下，要求该设备的接口还具备一定的可扩展性，以备增加后续功能。通过对需求的分析，该设备需要测试的接口功能具有种类多，数量多的特点，同时某些接口的指标要求不常用，在满足上述功能和接口需求的情况下，还需要具备一定的接口可扩展性。

经过多种方案的详细对比和论证，提出采用通用工控机，内部集成多种类型和接口的板卡，同时保留部分通用接口用于扩展的方案。其中板卡采用PCI-E和PCI两种插卡式的板卡解决方案。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是目前的综合测试系统，传输信号单一，数据间交互困难，并且很多系统的扩展性能差，本实用新型目的在于提供用于多接口的综合测试系统，解决上述的问题。

本实用新型通过下述技术方案实现：

用于多接口的综合测试系统，包括背板模块上设置有电源模块、PCI扩展槽、PCI功能卡和主板模块，背板模块与上位机通过NGA/DVI进行数据传输，PCI扩展槽内设置有若干个 PCI-e载卡，PCI-e载卡内部设置有FMC扩展接口与外部模块连接。

进一步地，所述外部模块包括LVDS高速接口子模块、数字音频接口子模块、光纤接口子模块、扩展模块，所述高速接口子模块、光纤接口子模块通过PCIE高速总线进行数据传输，数字音频接口子模块接收PCI-e载卡发送的数据进行音频输出。

进一步地，所述PCI-e载卡还包括内存模块、闪存模块，FPGA模块，所述内存模块和闪存模块与FPGA模块连接，FPGA模块通过LVDS高速口、serdes高速口、I/O高速口与FMC 扩展接口进行数据传输，FPGA模块还将数据发送至主板模块。

进一步地，所述背板模块设置的PCI扩展槽至少为2个。

进一步地，所述背板模块设置的PCI功能卡至少为2个。

本实用新型采用的PCI-e载卡主要由FPGA作为核心处理器，与上位机采用PCIE2.0x8 接口，数据传输带宽理论值高达40Gbps，而FPGA外部集成了DDR3高速缓存，对外采用 FMC连接器，从FPGA上引出了三种信号：

1、LVDS高速差分信号，能够外接常用的LVDS信号外设，多组LVDS信号可以组合起来并行传输数据，极大的增加了数据传输带宽。

2、serdes高速差分信号，该信号是从FPGA的GTP口引出的信号，可以接自定义的serdes 信号外设，可以做RapidIO总线，接RapidIO总线外设，还可以做SGMII高速接口以及其他 serdes信号外设。

3、IO并行信号，可以作为常用的IO控制信号，也可以组成并行信号进行数据传输，也可以作为如SPI，I2C，UART等常用总线接相应的外设。FPGA的IO口是一种非常灵活的接口。