[实用新型]一种射频功率型固定电阻器高频测试夹具

说明书

技术领域

本实用新型属于电子器件生产技术领域，具体涉及一种射频功率型固定电阻器高频测试夹具。

背景技术

微波元器件设计生产出来后，需要对微波元器件的指标进行测试，看其性能指标是否达到设计要求。微波元器件的指标主要包括驻波比、插入损耗、隔离度、幅频响应、相位一致性、滤波特性等，这些指标都可以用S参数表达。一般采用矢量网络分析仪测量微波元器件的S参数，但这些元器件可能是非同轴器件，例如表贴封装或者插针式封装，不能直接与同轴接口形式的矢量网络分析仪连接来进行测试，必须设计和制作与之相适应的转换夹具。

现有射频功率型固定电阻器的高频测试夹具是由两块夹块和载片台组成；夹块安装有同轴射频连接器，夹块上面用导电胶与PCB板做成的50欧姆微带线粘在一起，同轴射频连接器的内导体与微带线用焊锡焊接在一起。测试时，把待测试产品放置在载片台上；输出端与微带线连接在一起，通过同轴射频连接器连接到矢量网络分析仪，就可以对产品进行测试。

现有测试夹具中的两个夹块与载片台为一体结构，无法拆卸分离，因此需要一一对应配套使用，若待测试产品的型号发生变化时，需要更换整个夹具，因此现有测试夹具需要跟对应型号大小的电阻器匹配，不同的型号需要匹配对应的夹具。若需要测试其他型号尺寸的产品时，需要对其进行性能测量，而微波测试夹具价格昂贵，几万到十几万不等，大大加大了测试成本。

实用新型内容

为了解决上述问题，本实用新型提供了一种射频功率型固定电阻器高频测试夹具，可适用于多种型号电阻器的高频测试。

本实用新型的技术方案为：一种射频功率型固定电阻器高频测试夹具，包括：

一个或多个用于承载电阻器的载片台；

两个用于夹紧载片台的夹块；

所述夹块上设置有电路结构，所述载片台上设置有凸台，所述凸台上面设置有用于承载电阻器的槽口，两个夹块夹紧所述载片台时，所述夹块的夹持面与凸台的侧壁抵接配合，所述夹块上设置有同轴射频连接器，所述电路结构包括与同轴射频连接器的内导体相连接且可与电阻器输出端相连接的微带线。

本实用新型使用时，可以选择与待测试产品(电阻器)相匹配的载片台，然后将待测试产品放置于槽口处，然后使得待测试产品的输出端与微带线相连接，通过同轴射频连接器连接到矢量网络分析仪，就可以对产品进行测试。

因此本实用新型根据不同尺寸的产品设计相应的载片台，不同的载片台使用时，可以继续使用相同的夹块，即可对不同尺寸的产品进行高频性能测试，本实用新型使得测试夹具使用最大化，大大降低了测试成本。

为了使得夹块与载片台紧密的配合，本实用新型中载片台与夹块的连接方式有多种，为了便于拆卸和更换载片台，作为优选，所述载片台的台面上设置有第一螺纹孔，所述夹块上设置有与所述第一螺纹孔位置对应的通孔，所述通孔内穿设有螺栓，螺栓穿过通孔并延伸至第一螺纹孔内。

作为优选，所述槽口内设置有多个沿着槽口的长度方向布置第二螺纹孔。可以在第二螺纹孔内穿设螺栓，可以使得待测试产品充分的接地，便于测试。

作为优选，所述夹块的边缘位置设置有限位凸台。

作为优选，所述槽口的侧壁从槽口一侧朝向远离槽口一侧倾斜。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果体现在：

本实用新型根据不同尺寸的产品设计相应的载片台，不同的载片台使用时，可以继续使用相同的夹块，即可对不同尺寸的产品进行高频性能测试，本实用新型使得测试夹具使用最大化，大大降低了测试成本。

附图说明

图1为本实用新型中载片台俯向结构示意图。

图2为本实用新型中载片台的侧向结构示意图。

图3为本实用新型中夹块与载片台相配合时的俯向结构示意图。

图4为本实用新型中夹块与载片台相配合时的侧向结构示意图。

具体实施方式

如图1～图4所示，本实用新型包括：用于承载电阻器3的载片台1；两个用于夹紧载片台1的夹块2；夹块2上设置有电路结构，载片台1上设置有凸台11，凸台11上面设置有用于承载电阻器的槽口12，两个夹块2夹紧所述载片台1时，夹块2的夹持面与凸台11的侧壁抵接配合，夹块2上设置有同轴射频连接器(图中未画出)，电路结构包括与同轴射频连接器的内导体相连接且可与电阻器3输出端相连接的微带线22。