[实用新型]一种M‑Z短波红外成像光谱仪有效
申请号: | 201720732810.5 | 申请日: | 2017-06-22 |
公开(公告)号: | CN206905902U | 公开(公告)日: | 2018-01-19 |
发明(设计)人: | 白清兰;胡炳樑;赵强;熊望娥;李芸;闫鹏;李立波 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/45;G01J3/02 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司61211 | 代理人: | 胡乐 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 短波 红外 成像 光谱仪 | ||
1.一种M‐Z短波红外成像光谱仪,其特征在于:包括物镜成像系统以及设置于物镜成像系统后端会聚光路中的M‐Z干涉仪;所述物镜成像系统采用正‐负‐正光焦度分配的无中间像面的离轴三反型式,包括沿光路走向依次设置的反射主镜、次镜组件、以及反射三镜,其中次镜组件为具有正负光焦度组合的透反镜组以满足像差校正需要;所述M‐Z干涉仪主要由两块立方分束棱镜和两块带偏角的90°五角反射棱镜组成,当来自物镜的成像光束进入第一块立方分束棱镜后,光束被分成两束,分别进入上下两块90°五角反射棱镜中,两块90°五角反射棱镜分别将光线折转90°后进入第二块立方分束棱镜后合并,在像面处形成干涉图调制的目标景物图像。
2.根据权利要求1所述的M‐Z短波红外成像光谱仪,其特征在于:两块立方分束棱镜所处空间位置无偏差,α为干涉仪横向剪切角。
3.根据权利要求1所述的M‐Z短波红外成像光谱仪,其特征在于:其中两块90°五角反射棱镜所处空间位置无偏差。
4.根据权利要求1所述的M‐Z短波红外成像光谱仪,其特征在于:所述次镜组件主要由近无光焦度的两片透镜组成,其中位于反射三镜相对近端的第一透镜(2‐1)具有微量的负光焦度,位于反射三镜相对远端的第二透镜(2‐2)具有微量的正光焦度,次镜组件的反射面与所述第二透镜(2‐2)左边的面共面,使第二透镜(2‐2)形成透反镜片。
5.根据权利要求1或4任一所述的M‐Z短波红外成像光谱仪,其特征在于:所述次镜组件的所有光学表面均为球面。
6.根据权利要求1或4任一所述的M‐Z短波红外成像光谱仪,其特征在于:所述次镜组件采用红外石英材料制成。
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