[实用新型]一种用于基因测序的DNA荧光定量分析装置有效
申请号: | 201720670685.X | 申请日: | 2017-06-11 |
公开(公告)号: | CN207031439U | 公开(公告)日: | 2018-02-23 |
发明(设计)人: | 朱灏 | 申请(专利权)人: | 华夏源(上海)干细胞技术有限公司 |
主分类号: | C12M1/34 | 分类号: | C12M1/34 |
代理公司: | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)11435 | 代理人: | 周丹 |
地址: | 201401 上海市奉贤*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 基因 dna 荧光 定量分析 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种基因检测装置,确切地说是一种用于基因测序的DNA荧光定量分析装置。
背景技术
目前在进行基因测序的DNA荧光定量分析时,所使用的检测装置虽然可以满足检测作业的需要,但在使用过程中发现,当前的检测设备结构相对固定,在进行检测作业时,一台检测设备仅能满足一种类型试管使用的需要,因此导致当前的检测设备使用灵活性不足,导致当前在进行检测作业时,往往需要使用不同设备针对不同类型的试管进行检测作业,从而导致当前的基因检测作业成本相对较高,且检测作业的操作相对复杂,因此针对这一现状,迫切需要开发一种新型的基因检测设备结构,以满足实际使用的需要。
实用新型内容
针对现有技术上存在的不足,本实用新型提供一种用于基因测序的DNA荧光定量分析装置,该新型结构简单,使用灵活方便,一方面运行自动化程度高,检测作业效率高,另一方面可有效的满足多种类型试管使用的需要,从而提高设备使用的灵活性和极大的拓宽了适用范围。
为了实现上述目的,本实用新型是通过如下的技术方案来实现:
一种用于基因测序的DNA荧光定量分析装置,其中,所述的用于基因测序的DNA荧光定量分析装置包括承载底座、承载立柱、定位横梁、检测头、定位块、驱动汽缸、荧光检测单元及试样盘,所述的承载立柱末端与承载底座侧表面连接,顶端与定位横梁末端端面连接,所述的承载立柱轴线分别与承载底座和定位横梁相互垂直分布,所述的检测头通过滑轨与定位横梁相互滑动连接,所述的滑轨与定位横梁轴线相互平行分布,所述的检测头位于承载底座正上方,且检测头轴线与承载底座上表面相互垂直分布,所述的驱动汽缸安装在检测头上,并与检测头轴线平行分布,所述的定位块与驱动汽缸前端面连接,所述的荧光检测单元安装在定位块上并与驱动汽缸同轴分布,所述的试样盘通过转台机构安装在承载底座上端面并位于定位横梁正下方,所述的试样盘与承载底座同轴分布,且试样盘上端面与荧光检测单元之间间距为5—10厘米.
进一步的,所述的试样盘包括承载壳、承载内胆、半导体制冷装置及硅胶加热装置,其中所述的半导体制冷装置及硅胶加热装置均至少一个,并环绕承载壳轴线均布在承载壳内壁上,所述的承载内胆嵌于承载壳内,并与承载壳同轴分布,所述的承载内胆内均布至少四个试管承载孔,所述的试管承载孔与承载壳轴线平行分布,且各试管承载孔环绕承载壳轴线均布。
进一步的,所述的承载壳为横截面为“凵”字型结构,
进一步的,所述的承载立柱为至少两级伸缩杆结构。
进一步的,所述的承载底座与试样盘下端面间通过至少四个滑轮相互连接,且各滑轮环绕承载底座轴线均布。
进一步的,所述的驱动汽缸前端另设弹性密封套,所述的弹性密封套与驱动汽缸同轴分布,并包覆在荧光检测单元外。
进一步的,所述的检测头外表面设至少一个激光测距装置,所述的激光测距装置与驱动汽缸轴线平行分布。
进一步的,所述的承载内胆上端面抵御承载壳上端面1—10厘米。
本新型结构简单,使用灵活方便,一方面运行自动化程度高,检测作业效率高,另一方面可有效的满足多种类型试管使用的需要,从而提高设备使用的灵活性和极大的拓宽了适用范围。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式来详细说明本实用新型。
图1为本实用新型结构示意图。
具体实施方式
为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施方式,进一步阐述本实用新型。
如图1 所述的一种用于基因测序的DNA荧光定量分析装置,包括承载底座1、承载立柱2、定位横梁3、检测头4、定位块5、驱动汽缸6、荧光检测单元7及试样盘8,承载立柱2末端与承载底座1侧表面连接,顶端与定位横梁3末端端面连接,承载立柱2轴线分别与承载底座1和定位横梁3相互垂直分布,检测头4通过滑轨9与定位横梁3相互滑动连接,滑轨9与定位横梁3轴线相互平行分布,检测头4位于承载底座1正上方,且检测头4轴线与承载底座1上表面相互垂直分布,驱动汽缸6安装在检测头4上,并与检测头4轴线平行分布,定位块5与驱动汽缸6前端面连接,荧光检测单元7安装在定位块5上并与驱动汽缸6同轴分布,试样盘8通过转台机构10安装在承载底座1上端面并位于定位横梁3正下方,试样盘8与承载底座1同轴分布,且试样盘8上端面与荧光检测单元7之间间距为5—10厘米.
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