[实用新型]一种非接触式弹头痕迹测量仪有效
| 申请号： | 201720663750.6 | 申请日： | 2017-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN206818135U | 公开（公告）日： | 2017-12-29 |
| 发明（设计）人： | 李刚;王翔宇;杨扬;王晓伟;黄欢;宋曙光 | 申请（专利权）人： | 李刚 |
| 主分类号： | G01B9/04 | 分类号： | G01B9/04;G01N21/84;G01N21/01;G01B11/26;G01B11/02;G01B11/28;G01B11/24;G01G19/52 |
| 代理公司： | 北京名华博信知识产权代理有限公司11453 | 代理人： | 李中强 |
| 地址： | 050021 河北省石家*** | 国省代码： | 河北;13 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 接触 弹头 痕迹 测量仪 | ||
【权利要求书】：
1.一种非接触式弹头痕迹测量仪，其特征在于：所述的非接触式弹头痕迹测量仪包括计算机、聚焦控制电机、CCD摄像机、图像采集卡、弹头旋转控制电机、三维工作台、弹头装夹装置、测量显微镜、光纤光源、发光导体和发光器，其中，所述的弹头装夹装置设置在三维工作台上，计算机通过弹头旋转控制电机与三维工作台相连，计算机通过聚焦控制电机与测量显微镜相连，测量显微镜上设有CCD摄像机，计算机通过图像采集卡与CCD摄像机相连，计算机与光纤光源相连，光纤光源通过发光导体和发光器相连，发光器设置在测量显微镜的对应位置上。
2.根据权利要求1所述的一种非接触式弹头痕迹测量仪，其特征在于：所述的三维工作台上设有称重装置。
3.根据权利要求1所述的一种非接触式弹头痕迹测量仪，其特征在于：所述的发光器为环形发光器。
4.根据权利要求1所述的一种非接触式弹头痕迹测量仪，其特征在于：所述的光纤光源为12V/100W光纤冷光源。
5.根据权利要求1所述的一种非接触式弹头痕迹测量仪，其特征在于：所述的CCD摄像机型号为SONY公司XC－75工业CCD相机，分辨率768×494；扫描范围7．95×6．45；感光面8．4μm×9.8μm；水平/垂直扫描频率15．734kHz/59．94Hz；水平清晰度570线；垂直清晰度400l×F4。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于李刚，未经李刚许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201720663750.6/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
