[实用新型]一种三维调整测量基座

说明书

技术领域

本实用新型涉及测量基座技术领域，尤其涉及一种三维调整测量基座。

背景技术

测量基座的在激光测量应用方面，基座的作用就是使激光射出的激光束反射回到“某一特定的点”上，反射光束能否回到特点的点直接影响测量精度。现有一些测量基座的机构太复杂成本也高，调整是直线调整，不能实现角度调整，而本实用新型测量基座主要功能是绕三个相互垂直轴的微角度调整。

实用新型内容

本实用新型旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本实用新型的一个目的在于提出一种三维调整测量基座，实现了三个相互垂直轴的微角度调整，调整精度高，操作简单。

根据本实用新型实施例的一种三维调整测量基座，包括支座、X-Y轴基座、X轴基板、Y轴基板，所述Y轴基板通过螺钉固定在支座上，所述X-Y轴基座设置在Y轴基板上，所述Y轴基板两侧设有Y轴支座，所述X-Y轴基座上设有U型开口的X轴底板以及设置在X轴底板上U型结构的X轴基板，所述X轴底板上的两个U型端上分别设有X-Z轴调整座和X轴调整座，所述X轴基板上的U型开口处设有Z轴，所述Z轴上安装有Z轴锁定板。

在本实用新型的一些实施例中，所述X-Y轴基座上对称设有第一调整螺钉并通过锁紧螺母固定，所述X-Y轴基座上设有限位螺钉。

在本实用新型的另一些实施例中，所述X-Z轴调整座和X轴调整座上方均设有第二调整螺钉并通过锁紧螺母固定。

在本实用新型的另一些实施例中，所述X-Z轴调整座一侧设有两个第三调整螺钉并通过锁紧螺母固定。

在本实用新型的另一些实施例中，所述X轴基板上左右对称设有四个第四调整螺钉并通过锁紧螺母固定。

在本实用新型的另一些实施例中，所述X轴基板底端设有与X轴底板的U型开口相匹配的U型口凹槽。

本实用新型中，通过左右各设的两个第四调整螺钉来微调X轴基板在X轴底板上位置,X-Y轴基座上的第一调整螺钉可以微调X-Y轴基座在Z轴方向的高度，并通过第二调整螺钉来调节X轴基板的倾斜角度，使Z轴达到竖直位置，同时也达到了Z轴的Z轴调节,通过第三调整螺钉来微调整调整物件在Y轴的位置,实现了三个相互垂直轴的微角度调整，调整精度高，操作简单。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1为本实用新型提出的一种三维调整测量基座的结构示意图；

图2为X轴底板的结构示意图；

图3为X轴基板的结构示意图；

图4是图3的左视图；

图中：1-支座、2-X-Y轴基座、3-Y轴基板、4-X轴基板、41-U型口凹槽、5-Z轴锁定板、6-X-Z轴调整座、7-X轴调整座、8-Y轴支座、9-Z轴、10-第一调整螺钉、11-第二调整螺钉、12-第三调整螺钉、13-限位螺钉、14-第四调整螺钉、15-X轴底板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。