[实用新型]一种射频识别标签天线阻抗匹配连接装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及天线测试技术领域，尤其涉及一种射频识别标签天线阻抗匹配连接装置。

背景技术

无线射频识别技术(RFID)是从二十世纪90年代兴起的一项非接触式自动识别技术。它是利用射频方式进行非接触双向通信，以达到自动识别目标对象并获取相关数据，具有精度高、适应环境能力强、抗干扰强、操作快捷等许多优点。RFID目前已广泛应用于物流管理、智能交通、生产自动化等领域，特别是(840-960)MHz、2.45GHz、5.8GHz超高频/微波射频识别系统得到了广泛的应用。

基本的射频识别系统包括读写器和射频识别标签，射频识别标签是数据载体，读写器以非接触方式读取射频识别标签中的数据信息或向射频识别标签写入数据信息。射频识别标签天线和读写器天线辐射性能直接影响射频识别通信的通信质量和通信距离，因此如何准确测量和评价天线的性能变得异常关键。

对于读写器天线的辐射性能参数，目前都有成熟的解决方案，利用近场、远场、紧缩场等方式都可以实现其辐射电磁场等辐射性能的测量。对于射频识别标签天线的辐射性能测量，不能直接采用现有的天线测量系统。其原因是射频识别芯片由于生产工艺的限制无法做成标准的50欧姆阻抗，而是非标的复阻抗，与之匹配的射频识别标签天线也是复阻抗的，而标准的天线测量系统是50欧姆阻抗，直接测量会导致输入到被测标签天线的射频微波功率会远远小于施加功率，导致测量结果无法真实反映标签天线的辐射性能，因此需要一种用于阻抗匹配和转换的专用阻抗匹配装置。

RFID标签天线由于材质与制造工艺不同，分为金属蚀刻天线、印刷天线、镀铜天线等几种，复阻抗约为[(6---40)+j(30--100)]欧姆，因此标签天线不能直接连接50欧姆标准阻抗的测试系统进行测试。同时，标签天线为电小天线，在普通的天线暗室测试系统中，通用的天线支架相对于标签天线来说过大，将会造成天线谐振点偏移、辐射电磁场变形、增益变化，使天线测试结果不精确。因此需要一种用于射频识别标签天线的阻抗匹配连接装置。

实用新型内容

鉴于上述问题，本实用新型提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的射频识别标签天线阻抗匹配连接装置，以实现标签天线在阻抗匹配条件下的方向图测试。

本实用新型实施例提供的射频识别标签天线阻抗匹配连接装置，包括：平衡传输线馈电引出结构、阻抗匹配单元和平衡/不平衡转换结构；

所述平衡传输线馈电引出结构的一端与待测射频识别标签天线连接，另一端与所述阻抗匹配单元的一端连接，所述阻抗匹配单元的另一端通过所述平衡/不平衡转换结构与天线测量系统连接，以实现所述待测射频识别标签天线与所述天线测量系统的阻抗匹配。

其中，所述平衡传输线馈电引出结构采用特性阻抗为50欧姆的双线传输线实现。

其中，所述双线传输线为微带结构的双线传输线。

其中，所述平衡/不平衡转换结构输入输出端口的特性阻抗均为50欧姆。

其中，所述待测射频识别标签天线的中部开设有缝隙，所述缝隙一侧设有天线接口，所述平衡传输线馈电引出结构与所述天线接口通过焊接或粘合的方式进行连接。

其中，所述阻抗匹配单元两端均采用SMA接头进行连接。

其中，所述装置还包括夹具平台，所述平台基座用于对所述平衡传输线馈电引出结构、所述阻抗匹配单元、所述平衡/不平衡转换结构以及所述待测射频识别标签天线进行支撑。

其中，所述夹具平台，包括平台基座、设置于所述平台基座圆心处且与所述平台基座相垂直的支撑结构以及可拆卸地设置于所述平台基座和支撑结构的吸波材料，所述平衡传输线馈电引出结构布置于所述支撑结构上，设置于所述支撑结构的所述吸波材料用于包裹所述平衡传输线馈电引出结构。

其中，所述支撑结构为介电常数材料低于预设阈值的材料。

其中，所述支撑结构为泡沫。

本实用新型实施例提供的射频识别标签天线阻抗匹配连接装置，通过在待测试射频识别标签天线与天线测量系统之间加入阻抗匹配单元，使得射频识别标签天线可以与现有的天线测量系统实现阻抗匹配，进而能对射频识别标签天线的性能进行准确测量和评价。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本实用新型的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本实用新型的具体实施方式。

附图说明