[实用新型]一种控制板升级装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种控制板升级装置。

背景技术

控制板CCx通过LMT升级：是将需要升级的控制板CCx装入ZXSDR B8200设备组装完整，并在电脑端运行LMT软件，再将控制板CCx上的网线口与电脑的网口连接，再将48V电缆接好，打开ZXSDR B8200设备电源开关，待设备信号灯状态显示正常后，将准备好的CCx固件和软件通过LMT程序下载到CCx板件中，注意的是CCx板中的软件要低于LMT软件的版本，否则LMT无法登录到升级界，造成有些高本的CCx无法升级或降级，影响设备测试，影响工作效率，不利于节约成本。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种控制板升级装置，该装置通过设置有X-LINE装置，该装置携带方便测试快速，同时升降级速度快，操作简单，该装置可以极大的减小成本，同时获得高效益。

本实用新型是通过以下技术方案来实现的：

一种控制板升级装置，包括X-LINE装置，所述X-LINE装置左侧靠近中间的位置处设置有25针串口线缆，所述25针串口线缆左侧的位置处设置有连接电脑用的25针串口插头，所述X-LINE装置右侧面靠近底部的位置处设置有FC-14P线缆，所述FC-14P线缆右侧的位置处连接有FC-14P接口，所述25针串口插头包括1～25号连接触头，所述1号连接触头为选通触头，所述2号连接触头～所述9号触头为数据位触头，所述10号连接触头为确认触头，所述11号连接触头为忙指示触头，所述12号连接触头为缺纸触头，所述13号连接触头为选择触头，所述14号连接触头为自动换行触头，所述15号连接触头为错误观点触头，所述16号连接触头为初始化触头，所述17号连接触头为连接输入触头，所述18号连接触头～所述25号连接触头为地线路连接触头，所述FC-14P接口包括1～14号针脚，所述1号针脚和所述13号针脚为电源输入端，所述2号针脚、所述4号针脚、所述6号针脚、所述8号针脚、所述10号针脚和所述14号针脚均为接地针脚，所述3号针脚为测试系统复位端，所述5号针脚为测试数据串行输入端，所述7号针脚为测试模式选择端，所述9号针脚测试时钟端，所述11号针脚为测试数据串行输出端，所述12号针脚为闲置端。

优选地，所述25针串口插头顶部和底部的位置处设置有固定螺丝；通过设置有固定螺丝，使得25针串口插头与电脑连接的更加稳固。

X-LINK装置的工作原理：

X-LINK装置的工作原理可以归结为：在器件内部定义一个TAP(Test Access Port，测试访问口)，通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试和调试，首先介绍一下边界扫描和TAP的基本概念和内容。

1、边界扫描

边界扫描(Boundary-Scan)技术的基本思想是在靠近芯片的输入/输出引脚上增加一个移位寄存器单元，也就是边界扫描寄存器(Boundary-Scan Register)。当芯片处于调试状态时，边界扫描寄存器可以将芯片和外围的输入/输出隔离开来，通过边界扫描寄存器单元，可以实现对芯片输入/输出信号的观察和控制，对于芯片的输入引脚，可以通过与之相连的边界扫描寄存器单元把信号(数据)加载到该引脚中去；对于芯片的输出引脚，也可以通过与之相连的边界扫描寄存器“捕获”该引脚上的输出信号，在正常的运行状态下，边界扫描寄存器对芯片来说是透明的，所以正常的运行不会受到任何影响，这样，边界扫描寄存器提供了一种便捷的方式用于观测和控制所需调试的芯片，另外，芯片输入/输出引脚上的边界扫描(移位)寄存器单元可以相互连接起来，在芯片的周围形成一个边界扫描链(Boundary-Scan Chain)，边界扫描链可以串行地输入和输出，通过相应的时钟信号和控制信号，就可以方便地观察和控制处在调试状态下的芯片。

2、测试访问口TAP

TAP(Test Access Port)是一个通用的端口，通过TAP可以访问芯片提供的所有数据寄存器(DR)和指令寄存器(IR)，对整个TAP的控制是通过TAP控制器(TAP Controller)来完成的，下面先分别介绍一下TAP的几个接口信号及其作用，其中，前4个信号在IEEE1149.1标准里是强制要求的。

TCK：时钟信号，为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号。

TMS：模式选择信号，用于控制TAP状态机的转换。

TDI：数据输入信号。

TDO：数据输出信号。