[实用新型]光伏电池片检测装置有效
申请号: | 201720532576.1 | 申请日: | 2017-05-15 |
公开(公告)号: | CN206834158U | 公开(公告)日: | 2018-01-02 |
发明(设计)人: | 何帅;杨连丽;彭丽霞 | 申请(专利权)人: | 阿特斯阳光电力集团有限公司;常熟阿特斯阳光电力科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 苏州携智汇佳专利代理事务所(普通合伙)32278 | 代理人: | 尹丽 |
地址: | 215011 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电池 检测 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种检测装置,尤其涉及一种检测逆电流的光伏电池片检测装置。
背景技术
众所周知,太阳能是可持续发展的绿色能源。晶体硅太阳能电池将这种绿色能源转化成人类可使用的电能,但是在真正使用过程中,现阶段还有很多困难需要克服。比如,太阳能组件发电过程中的热斑、甚至烧穿现象,轻则影响发电效率,重则损毁组件,给使用方造成不可估量的损失。其中,电池片漏电是造成组件热斑、烧穿现象的重要因素。在电池片的制作过程中很难避免这种漏电现象,因此我们只能通过严格的监控,减少漏电过大的电池片流出。
逆电流是电池片漏电的一种表征手段。传统工艺过程中,仅测试成品电池片的逆电流。仅仅监控成品电池片的逆电流存在两个弊端:一方面,一旦出现批量漏电现象,不仅给不良片的返工带来技术上的困难,而且大大减少合格品的产量,甚至影响交货;另一方面,如果唯一也是最后的质量监控出现误差的话,那么不良片流入客户端的概率也将大大增加,如此便从各方面给公司经济造成很多不必要的损失。
有鉴于此,有必要设计一种改进的光伏电池片检测装置,以解决上述问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种避免漏电过大的光伏电池片流入后续工段,及时遏制不良片的进一步扩大,同时定位到异常工段,从而快速解决问题的光伏电池片检测装置。
为实现上述实用新型目的,本实用新型提供了一种光伏电池片检测装置,包括电源、与所述电源电性连接的测试仪以及开关,所述电源设有正极和负极,所述光伏电池片检测装置还包括与所述正极电性连接的正极金属电极板和与所述负极电性连接的负极金属电极板,所述测试仪与所述负极和所述负极金属电极板电性连接,所述正极金属电极板和所述负极金属电极板呈上、下相对放置且两者之间形成一个检测空间。
作为本实用新型的进一步改进,所述负极金属电极板设有朝向所述检测空间的负极检测面,所述正极金属电极板设有朝向所述检测空间的正极检测面,所述正极检测面与所述负极检测面相对平行设置。
作为本实用新型的进一步改进,所述负极检测面上固定设有负极金属网版。
作为本实用新型的进一步改进,所述正极金属电极板和所述负极金属电极板之间的距离大于所述光伏电池片的厚度。
作为本实用新型的进一步改进,所述负极金属网版包括与所述负极检测面接触的金属面板和自所述金属面板向所述检测空间突出的金属栅线。
作为本实用新型的进一步改进,所述金属栅线的布局与成品电池片的正面网版的金属栅线的布局一致。
作为本实用新型的进一步改进,所述电源的电压值范围为10V~20V。
本实用新型的有益效果是:本实用新型光伏电池片检测装置通过对待测光伏电池片注入反向电压,监控光伏电池片制造工艺过程中相关工段的光伏电池片的逆电流,从而避免漏电过大的光伏电池片流入后续的制造工段,不仅可以及时遏制不良片的进一步扩大,而且可以排查定位到准确的异常工段,从而快速解决问题,恢复正常生产,提高了产能和成品的质量。
附图说明
图1为本实用新型光伏电池片检测装置的电路连接示意图。
图2为本实用新型中负极金属网版的结构示意图。
附图标记
100-光伏电池片检测装置;1-电源;11-正极;12-负极;2-测试仪;3-正极金属电极板;31-正极检测面;4-负极金属电极板;41-负极检测面;5-导线;6-开关;7-检测空间;8-负极金属网版;81-金属面板;82-金属栅线;200-光伏电池片。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚,下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细描述。
请参阅图1所示的光伏电池片检测装置100的电路连接示意图。所述光伏电池片检测装置100包括电源1、测试仪2、正极金属电极板3、负极金属电极板4、开关6以及将所述电源1、所述测试仪2及所述开关6串联的若干导线5。
在本实用新型中,所述电源1为直流电压源。所述直流电压源1设有正极11和负极12,所述正极11和所述负极12通过所述导线5分别与所述正极金属电极板3和所述负极金属电极板4相连。所述直流电压源1设置有电压调节按钮,所述直流电压源1的电压值范围为10V~20V。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造