[实用新型]一种地质剖面测量装置

权利要求书

1.一种地质剖面测量装置，其特征在于：包括支撑杆（1）和测量箱（2），所述支撑杆（1）由顶杆（3）和底杆（4）组成，所述顶杆（3）和底杆（4）之间通过滑动盘（5）连接，且滑动盘（5）固定安装在顶杆（3）上，所述滑动盘（5）纵向轴对称位置设有固定螺栓（6），所述固定螺栓（6）通过与底杆（4）之间挤压来固定顶杆（3）和底杆（4），所述测量箱（2）内部设有横杆（7），所述横杆（7）通过竖杆（8）固定在测量箱（2）底部，所述横杆（7）和竖杆（8）直接通过转盘（9）连接，在竖杆（8）底部固定安装有激光器（10），所述横杆（7）两端分别安装有测量托架（11）和透镜支架（12），所述测量托架（11）上安装有两个激光盘（13），所述激光盘（13）由圆周刻度盘（14）和激光器（10）组成，所述圆周刻度盘（14）通过套箍（15）在测量托架（11）上滑动，所述激光器（10）通过旋转螺栓（16）在圆周刻度盘（14）上转动，所述透镜支架（12）上固定安装有透镜（17）。

2.根据权利要求1所述的一种地质剖面测量装置，其特征在于：所述底杆（4）中心由上至下均设有固定槽（18），所述固定槽（18）内部设有紧固硅胶层（19）。

3.根据权利要求1所述的一种地质剖面测量装置，其特征在于：所述转盘（9）上设有紧固螺栓（20），所述紧固螺栓（20）固定安装在转盘（9）侧面，且通过紧固螺栓（20）来固定转盘（9）。

4.根据权利要求1所述的一种地质剖面测量装置，其特征在于：所述位于竖杆（8）底部的激光器（10）呈水平安装，且在激光器（10）上固定安装有水准仪（21）。

5.根据权利要求1所述的一种地质剖面测量装置，其特征在于：所述激光器（10）末端均固定安装有调节棒（22），且在激光器（10）中心对称位置上固定安装有偏移针（23），在圆周刻度盘（14）上固定安装有两根分别水平和垂直的对准针（24）。

6.根据权利要求1所述的一种地质剖面测量装置，其特征在于：所述透镜（17）与透镜支架（12）轴线在同一条直线上，且透镜支架（12）垂直于横杆（7），在透镜（17）中心设有对焦中心（25）。