[实用新型]用于测量核聚变装置内等离子体参数的布喇格成像光谱仪有效

专利信息
申请号: 201720367218.X 申请日: 2017-04-10
公开(公告)号: CN206657111U 公开(公告)日: 2017-11-21
发明(设计)人: 刘利锋 申请(专利权)人: 山西大同大学
主分类号: G01T1/36 分类号: G01T1/36
代理公司: 武汉维创品智专利代理事务所(特殊普通合伙)42239 代理人: 余丽霞
地址: 037000 山西省大同*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 用于 测量 聚变 装置 等离子体 参数 布喇格 成像 光谱仪
【权利要求书】:

1.用于测量核聚变装置内等离子体参数的布喇格成像光谱仪,包括位于核聚变装置上透镜窗处的光谱仪箱体,其特征在于:在所述光谱仪箱体内设有正对核聚变装置上透镜窗口的真空型腔,在所述真空型腔内沿透镜窗口的水平中心轴线方向依次设有装配在第一调节平台上的成像物体及装配在第二调节平台上的球面弯曲布喇格晶体,在所述真空型腔内还设有装配在第三调节平台上的成像接收器,所述第一调节平台、第二调节平台及第三调节平台均固定在光谱仪箱体内;

其中,核聚变装置用于提供测量所需的等离子光源,并通过透镜窗口传输到光谱仪的真空型腔内;

球面弯曲布喇格晶体用于选取满足布喇格衍射波长要求的X射线;

成像接收器用于探测并读取所需的等离子体的二维成像X射线的光谱信号;

球面弯曲布喇格晶体、成像接收器以及等离子光源的位置设置满足罗兰圆要求,并均位于罗兰圆的圆周上。

2.根据权利要求1所述的用于测量核聚变装置内等离子体参数的布喇格成像光谱仪,其特征在于:所述第一调节平台、第二调节平台及第三调节平台可通过焊接、铆接或螺钉与光谱仪箱体连接固定。

3.根据权利要求1所述的用于测量核聚变装置内等离子体参数的布喇格成像光谱仪,其特征在于:所述第一调节平台包含有固定在光谱仪箱体上的第一底座和固定在第一底座上用于对成像物体进行X向、Y向及Z向位移调节的第一三维调整台。

4.根据权利要求1所述的用于测量核聚变装置内等离子体参数的布喇格成像光谱仪,其特征在于:所述第二调节平台包含有固定在光谱仪箱体上的第二底座、固定在第二底座上用于调整球面弯曲布喇格晶体布喇格角的旋转台、固定在旋转台上用于对球面弯曲布喇格晶体进行X向、Y向及Z向位移调节的第二三维调整台以及固定在第二三维调整台上用于安装固定球面弯曲布喇格晶体的晶体安装台。

5.根据权利要求1所述的用于测量核聚变装置内等离子体参数的布喇格成像光谱仪,其特征在于:所述第三调节平台包含有固定在光谱仪箱体上的第三底座和固定在第三底座上用于对成像接收器进行X向、Y向及Z向位移调节的第三三维调整台。

6.根据权利要求1所述的用于测量核聚变装置内等离子体参数的布喇格成像光谱仪,其特征在于:所述球面弯曲布喇格晶体的曲面中心点位置位于核聚变装置上透镜窗口的水平中心轴线与旋转台竖直中心轴线交汇处。

7.根据权利要求1所述的用于测量核聚变装置内等离子体参数的布喇格成像光谱仪,其特征在于:所述球面弯曲布喇格晶体可为石英晶体、硅晶体或锗晶体中的一种,球面弯曲布喇格晶体的布喇格角θ的设计值范围为49°~57°。

8.根据权利要求1所述的用于测量核聚变装置内等离子体参数的布喇格成像光谱仪,其特征在于:所述成像接收器可为X射线胶片、IP影像板或X射线CCD中的一种。

9.根据权利要求1所述的用于测量核聚变装置内等离子体参数的布喇格成像光谱仪,其特征在于:所述成像物体为网格结构。

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