[实用新型]厚度检测装置、介质鉴别装置以及介质处理装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及厚度检测装置、介质鉴别装置以及介质处理装置。

背景技术

以往，作为这种厚度检测装置，例如存在专利文献1中记载的装置。以往的厚度检测装置的结构是根据介质的厚度使在测定对象上形成的目标面向位移传感器(检测部)的近接方向位移，由位移传感器测定其位移量作为介质的厚度。具体来讲，以往的厚度检测装置具有基准辊、检查辊、支架、弹簧以及位移传感器。检查辊配置在基准辊的上方。支架以旋转自如的方式支承检查辊。支架被支点轴以转动自如的方式支承在框架上。弹簧对支架和检查辊向基准辊的方向施力，使得检查辊与基准辊紧密连接。位移传感器配置在支架的上方。

在该结构中，当介质在基准辊与检查辊之间通过时，根据介质的厚度，支架以支点轴为中心向上方转动。此时，支架的上表面朝向位移传感器在近接方向上位移。位移传感器将支架的上表面作为目标面，测定目标面的位移量作为介质的厚度。

【专利文献1】：日本特开2005-209008号公报(图1、图4、第0016段、第0028段)

然而，以往的厚度检测装置的结构是当介质在基准辊与检查辊之间通过时，目标面朝向位移传感器(检测部)在近接方向上位移。因此，如下文说明的那样，以往的厚度检测装置需要将位移传感器与目标面之间的间隔设得较大。这样的以往的厚度检测装置是在传感器特性较差的位置测定目标面的位移量的。因此，以往的厚度检测装置存在如下课题：希望通过在传感器特性较好的位置测定目标面的位移量来提高介质厚度的检测精度。

例如，以往的厚度检测装置的结构是当介质在基准辊与检查辊之间通过时，目标面朝向位移传感器在近接方向上位移。因此，以往的厚度检测装置需要将位移传感器与目标面之间的间隔设得较大，使得目标面不与位移传感器接触。例如在厚度检测装置是能够检测3张介质的重叠的装置的情况下，该间隔是除了辊或支架等结构部件的假定的制造偏差量的厚度之外，加上有可能被重叠输送的3张介质的厚度而得到的间隔。

另外，一般来讲，在厚度检测装置中使用的位移传感器例如具有图9所示的线性特征。图9是表示位移传感器与目标面之间的距离和传感器特性之间的关系的坐标图。在图9中，横轴表示位移传感器与目标面之间的距离，纵轴表示传感器输出。

图9示出位移传感器与目标面之间的距离越短(间隔越窄)，则传感器输出越大，另一方面，位移传感器与目标面之间的距离越长(间隔越宽)，则传感器输出越小。

另外，图9示出目标面位移了图10所示的位移量Δg时的位移传感器的输出值的变化量D1、D2。图10是表示位移传感器SN100与作为测定对象的支架101上形成的目标面TG之间的位置关系的图。这里，设位移传感器SN100与目标面TG之间的间隔为g1、g2(其中，g1＜g2)，目标面TG的位移量为Δg进行说明。间隔g1是与辊或支架等结构部件的假定的制造偏差量的厚度相当的间隔。间隔g2是除了辊或支架等结构部件的假定的制造偏差量的厚度之外，加上有可能被重叠输送的多张介质的厚度而得到的间隔。

在该结构中，间隔g1比间隔g2窄。并且，目标面TG的位移量Δg在间隔g1和间隔g2处是相同的。然而，较窄的间隔g1处的位移传感器SN100的输出值的变化量D1比较宽的间隔g2处的位移传感器SN100的输出值的变化量D2大。

这样的现象表示越是接近位移传感器SN100的位置，越是传感器特性较好的位置，另一方面，越是远离位移传感器SN100的位置，越是传感器特性较差的位置。即，一般在厚度检测装置中使用的位移传感器SN100具有如下特性：相对于目标面TG的相同的位移量Δg，越在靠近自己的位置测定，越输出较大的输出值。

因此，越是使位移传感器SN100与目标面TG之间的间隔变窄，厚度检测装置越能够在位移传感器SN100的输出值的测定性能和S/N比较好的位置，测定目标面TG的位移量(即介质的厚度)。

然而，如上所述，需要将作为检测部的位移传感器SN100与目标面TG之间的间隔设得较大。这样的以往的厚度检测装置是在传感器特性较差的位置测定目标面TG的位移量的。因此，以往的厚度检测装置存在如下课题：希望通过在传感器特性较好的位置测定目标面的位移量来提高介质厚度的检测精度。

实用新型内容

本实用新型正是为了解决上述的课题而完成的，其主要目的在于，提供使检测部与目标面之间的间隔变小的厚度检测装置、介质鉴别装置以及介质处理装置。