[实用新型]一种测量显微镜有效

专利信息
申请号: 201720321433.6 申请日: 2017-03-29
公开(公告)号: CN206684380U 公开(公告)日: 2017-11-28
发明(设计)人: 马根荣;章鑫;刘艳;印志国 申请(专利权)人: 南京江城工程项目管理有限公司
主分类号: G02B25/00 分类号: G02B25/00;G02B21/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 211801 江苏省南京*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 显微镜
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及光学计量仪器技术领域,特别涉及一种测量显微镜。

背景技术

测量显微镜,采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量;特别适用于录象磁头、大规模集成电路线宽以及其他精密零件的测试。广泛地适用于计量室、生产作业线及科学研究等部门。工作台不光在X-Y平面上移动,还可以在高度方向上移动。

如公布号为“CN106017309A”的中国专利所公开的一种测量显微镜,包括显微镜本体、物镜、目镜等;由于测量显微镜主要是用于测量精密零件的且放置位置距离生产线较近,生产线在加工零件的过程中,致使空气中粉尘较多,肯能会堆积在目镜上,影响每一次的观测。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种测量显微镜,在这类测量显微镜中可保持双筒目镜的清洁。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:一种测量显微镜,包括显微镜本体和双筒目镜,所述双筒目镜上活动连接有封盖,所述封盖上内壁向内凹陷形成第一凹槽,所述第一凹槽内设置有凸块,所述第一凹槽和凸块之间设置有弹性体,所述双筒目镜上设置有能与凸块相配合的第二凹槽,所述凸块表面包括坡度较小的第一斜面和坡度较大的第二斜面。

通过采用上述技术方案,封盖设置有两个,分别套设在双筒目镜上;每次使用完毕之后,将封盖重新套设回双筒目镜上,在此过程中,目镜的侧壁作用在第一斜面上,向内挤压弹性体,从而将凸块卡嵌在第二凹槽中完成封盖与双筒目镜的连接;再将封盖从双筒目镜上取下时,作用在第二斜面上,向内挤压弹性体,从而将封盖取下;因为第二斜面的坡度大于第一斜面的坡度,所以在第二斜面上施加较大的作用力和在第一斜面上施加较小的作用力达到的效果是一样的。

作为优选,所述双筒目镜外壁设置有螺纹,所述双筒目镜上螺纹连接有保护套。

通过采用上述技术方案,保护套螺纹连接在双筒目镜上,向上旋转高于双筒目镜,特别适用于外界光照较强的情况,或者空气中浮尘较多的情况,保护套遮挡掉一部分外界的阳光,也遮挡掉一部分空气中的浮尘。

作为优选,所述封盖上设置有第一通孔。

通过采用上述技术方案,当光线极强的时候或者室内空气中浮尘较多,可以不取下封盖,从封盖上的第一通孔上对目镜进行观测,相当于调小光圈,观测的更清楚。

作为优选,所述封盖设置有两个且之间设置有连接带,所述封盖端部设置有贯穿其厚度的第二通孔,所述连接带从第二通孔中通过,所述连接带的端部设置有第一延伸部。

通过采用上述技术方案,第一延伸部与连接带连接,连接带从第二通孔中穿过,当拽动连接带时,可以将双筒目镜上的两个封盖同时拽下。

作为优选,所述封盖与双筒目镜接触的面上设置有擦拭布,所述擦拭布由弹性材料制成,所述擦拭布上设置有弹力环。

通过采用上述技术方案,擦拭布与弹力环一体设置,将弹力环箍紧在连接带上时,擦拭布覆盖在第一延伸部上,当转动连接带时候,擦拭布擦拭双筒目镜,达到清洁的效果。

作为优选,所述擦拭布由弹性材料制成,所述擦拭布上设置有能相互配合的第一磁铁和第二磁铁。

通过采用上述技术方案,擦拭布的边缘分别固定在第一磁铁和第二磁铁上,利用第一磁铁和第二磁铁之间的吸引力将擦拭布固定;因为磁铁是一种硬质材料,所以不会像弹力环一样禁锢在连接带上,久之将连接带勒断。

作为优选,所述第一磁铁上设置有滑槽,所述第二磁铁上设置有能与滑槽相配合的滑块。

通过采用上述技术方案,若擦拭布弹力较大,可能会克服磁力将第一磁铁和第二磁铁分离,利用滑块和滑槽相互配合,避免第一磁铁和第二磁铁相互脱落,其次当滑块卡接在滑槽中时,能对第一磁铁和第二磁铁的位置进行限制。

作为优选,所述双筒目镜上设置有防静电层,所述防静电层上设置有自清洁层。

通过采用上述技术方案,加工车间内通常会漂浮有一些小的浮尘颗粒,大多数的浮沉颗粒都带静电,为了避免浮尘颗粒粘粘在双筒目镜上,所以在双筒目镜上首先涂覆有一层防静电层;之后在防静电层上再涂覆有一层自清洁层,由于自清洁层这种材质特殊的接触角度,所以杂质物质不会吸附在其表面,从而保持双筒目镜的洁净度。

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