[实用新型]一种用于精密测量孔平行度的旋转支座有效
申请号: | 201720132500.X | 申请日: | 2017-02-14 |
公开(公告)号: | CN206450168U | 公开(公告)日: | 2017-08-29 |
发明(设计)人: | 孙桂香;宗福廷;孔凡宝 | 申请(专利权)人: | 淄博市技师学院 |
主分类号: | G01B5/24 | 分类号: | G01B5/24 |
代理公司: | 北京国坤专利代理事务所(普通合伙)11491 | 代理人: | 郭伟红 |
地址: | 255013 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 精密 测量 平行 旋转 支座 | ||
1.一种用于精密测量孔平行度的旋转支座,其特征在于:包括固定块(1)、限位器(2)、配重块(3)、支座(4)、底座(5)、水平轴(6)、立板(7)、放置板(8)、伸缩杆(9)、固定杆(10)、转轴(11)和立柱(12);所述支座(4)底部设置有底座(5),所述底座(5)顶部一侧设置有立柱(12),所述立柱(12)上侧活动连接有转轴(11),所述转轴(11)上侧活动连接有固定块(1);所述底座(5)上侧中间位置设置有限位器(2);所述转轴(11)一侧设置有固定杆(10),所述固定杆活动连接有伸缩杆(9),所述伸缩杆(9)一端固定连接有放置板(8),所述放置板(8)一侧固定安装有立板(7),所述立板(7)顶部设置有水平轴(6);所述底座(5)另一侧设置有配重块(3)。
2.根据权利要求1所述的一种用于精密测量孔平行度的旋转支座,其特征在于:所述水平轴(6)为测量孔平行度的基准。
3.根据权利要求1所述的一种用于精密测量孔平行度的旋转支座,其特征在于:所述转轴(11)可以360度旋转。
4.根据权利要求1所述的一种用于精密测量孔平行度的旋转支座,其特征在于:所述立板(7)和放置板(8)均设置有千分尺。
5.根据权利要求1所述的一种用于精密测量孔平行度的旋转支座,其特征在于:所述伸缩杆(9)可沿水平方向移动。
6.根据权利要求1所述的一种用于精密测量孔平行度的旋转支座,其特征在于:所述转轴(11)一侧设置有限位挡板。
7.根据权利要求1所述的一种用于精密测量孔平行度的旋转支座,其特征在于:所述限位器(2)两侧均设置有凹槽。
8.根据权利要求1所述的一种用于精密测量孔平行度的旋转支座,其特征在于:所述放置板(8)上侧设置有导轨。
9.根据权利要求1所述的一种用于精密测量孔平行度的旋转支座,其特征在于:所述固定块(1)顶部设置有角度检测器。
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