[实用新型]一种用于精密测量孔平行度的旋转支座有效

专利信息
申请号: 201720132500.X 申请日: 2017-02-14
公开(公告)号: CN206450168U 公开(公告)日: 2017-08-29
发明(设计)人: 孙桂香;宗福廷;孔凡宝 申请(专利权)人: 淄博市技师学院
主分类号: G01B5/24 分类号: G01B5/24
代理公司: 北京国坤专利代理事务所(普通合伙)11491 代理人: 郭伟红
地址: 255013 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 精密 测量 平行 旋转 支座
【权利要求书】:

1.一种用于精密测量孔平行度的旋转支座,其特征在于:包括固定块(1)、限位器(2)、配重块(3)、支座(4)、底座(5)、水平轴(6)、立板(7)、放置板(8)、伸缩杆(9)、固定杆(10)、转轴(11)和立柱(12);所述支座(4)底部设置有底座(5),所述底座(5)顶部一侧设置有立柱(12),所述立柱(12)上侧活动连接有转轴(11),所述转轴(11)上侧活动连接有固定块(1);所述底座(5)上侧中间位置设置有限位器(2);所述转轴(11)一侧设置有固定杆(10),所述固定杆活动连接有伸缩杆(9),所述伸缩杆(9)一端固定连接有放置板(8),所述放置板(8)一侧固定安装有立板(7),所述立板(7)顶部设置有水平轴(6);所述底座(5)另一侧设置有配重块(3)。

2.根据权利要求1所述的一种用于精密测量孔平行度的旋转支座,其特征在于:所述水平轴(6)为测量孔平行度的基准。

3.根据权利要求1所述的一种用于精密测量孔平行度的旋转支座,其特征在于:所述转轴(11)可以360度旋转。

4.根据权利要求1所述的一种用于精密测量孔平行度的旋转支座,其特征在于:所述立板(7)和放置板(8)均设置有千分尺。

5.根据权利要求1所述的一种用于精密测量孔平行度的旋转支座,其特征在于:所述伸缩杆(9)可沿水平方向移动。

6.根据权利要求1所述的一种用于精密测量孔平行度的旋转支座,其特征在于:所述转轴(11)一侧设置有限位挡板。

7.根据权利要求1所述的一种用于精密测量孔平行度的旋转支座,其特征在于:所述限位器(2)两侧均设置有凹槽。

8.根据权利要求1所述的一种用于精密测量孔平行度的旋转支座,其特征在于:所述放置板(8)上侧设置有导轨。

9.根据权利要求1所述的一种用于精密测量孔平行度的旋转支座,其特征在于:所述固定块(1)顶部设置有角度检测器。

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