[实用新型]一种材料折射率的测量装置有效
申请号: | 201720110936.9 | 申请日: | 2017-02-06 |
公开(公告)号: | CN206557092U | 公开(公告)日: | 2017-10-13 |
发明(设计)人: | 刘世杰;王圣浩;张志刚;李灵巧;王微微 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01N21/41 | 分类号: | G01N21/41 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 材料 折射率 测量 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及材料折射率的测量领域,特别是一种自动、便捷、快速、精确测量材料折射率的装置。
背景技术
折射率是表征光透明物质光学性质的基本物理量之一,折射率的测量具有重要的实际意义。目前,折射率的测量方法很多,常用的有:1)使用分光计的最小偏向角法,该方法虽然测量精度很高,但对待测样品有较高的要求,除了需将样品加工成三棱镜外,还对所加工成的三棱镜顶角及其中两个平面的平面度有较高的精度要求,这增加了测量成本,此外分光计的调整较复杂,测量最小偏向角的步骤繁多,测量工作相当繁重,测量效率较低;2)阿贝折射计临界角法,该方法一般能测到4位有效数字,但计算公式相对复杂,引起误差的因素较多,而且要求样品的折射率不得大于1.7,这限制了该方法的应用范围。
发明内容
为了解决上述现有折射率测量装置和方法中存在的问题,本实用新型提出了一种材料折射率的测量装置,能够自动、便捷、快速、精确测量材料折射率。
本实用新型的技术解决方案如下:
一种材料折射率的测量装置,包括仪器本体,其特点在于,所述的仪器本体由封装在仪器外壳内的可调谐激光器、光阑、偏振片、分束器、样品架、计算机、参考光探测器和测试光探测器;
沿所述的可调谐激光器的输出光束方向依次是所述的光阑、偏振片和分束器,该分束器将光束分为作为测试光的透射光束和作为参考光的反射光束,沿所述测试光的出射方向是固定在样品架上的待测样品,测试光经待测样品反射后,被测试光探测器接收,和放置于待测样品反射光传播方向的测试光探测器,沿所述参考光的出射方向是参考光探测器,所述的测试光探测器的输出端和参考光探测器的输出端分别与计算机相连,所述的可调谐激光器的输出端与计算机相连。
还包括探测器转盘、样品转盘和连杆,所述的样品架固定在样品转盘上,所述的测试光探测器固定在连杆上,该连杆固定在探测器转盘上,所述的探测器转盘的输出端和所述的样品转盘的输出端分别与计算机相连。
所述的测试光探测器的输出端和参考光探测器的输出端分别与计算机的第一输入端相连,所述的可调谐激光器的输出端与计算机的第二输入端相连,所述的探测器转盘的输出端与计算机的第三输入端相连,所述的样品转盘的输出端与计算机的第四输入端相连
本实用新型的工作原理:
可调谐激光器发出的单色光源,经过光阑和偏振片形成光束质量较好的P偏振光,P偏振光经过分束器后形成一束参考光和一束测试光,参考光束被参考光探测器所收集,记录的强度记为I1,测试光束经过待测样品的反射后被测试光探测器所收集,记录的强度记为I2,定义因子k为:
通过旋转探测器转盘和样品转盘,依次使待测样品处在不同入射角度下测量因子k,得到函数利用计算机处理函数拟合得到函数取极小值时的取值则待测样品的折射率可根据如下公式计算得到:
与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:
(1)待测样品制备简单便捷。与现有常用的折射率测量方法相比(往往需要将样品加工成三棱镜,并且对所加工成的三棱镜顶角及其中两个平面的平面度有较高的精度要求),本实用新型提出的测量方法只需要将样品加工成平面即可,这大大简化了样品的制备流程,降低了制备成本。
(2)完全自动化的实现了样品折射率的测量,测量速度快、精度高。与现有常用的折射率测量方法相比(测量装置的调整较为复杂,测量步骤繁多,人为因素对测量结果影响较大,测量效率较低),本实用新型专利提出的测量方法完全自动化的实现了待测样品折射率的测量,人为参与步骤较少,测量速度快,数据重复性好。
附图说明
图1是本实用新型材料折射率的测量装置的结构图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细说明,但不应以此限制本实用新型的保护范围。
实施例1:
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