[实用新型]集纳米孔制备及检测分析于一体的装置有效

专利信息
申请号: 201720104358.8 申请日: 2017-02-03
公开(公告)号: CN206515389U 公开(公告)日: 2017-09-22
发明(设计)人: 龙亿涛;刘少创;师鑫;高瑞;应佚伦 申请(专利权)人: 华东理工大学
主分类号: G01R19/25 分类号: G01R19/25;G01B7/12;B82Y40/00
代理公司: 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙)31218 代理人: 翟羽,曾人泉
地址: 200237 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 集纳 制备 检测 分析 一体 装置
【权利要求书】:

1.一种集纳米孔制备及检测分析于一体的装置,其特征在于:含有计算机软件控制系统(1)、模数转换器(2)、电信号放大器(3)、前置放大器(4)、数据采集卡(5)、制备电路模块(6)、电极(7)、纳米孔微池(8)和屏蔽箱(9),其中,数据采集卡(5)和制备电路模块(6)是为纳米孔制备部分;前置放大器(4)和模数转换器(2)是为弱电流检测部分;将计算机软件控制系统(1)的一路与数据采集卡(5)连接,数据采集卡(5)连接制备电路模块(6)后再连接电极(7);同时,将计算机软件控制系统(1)的另一路与模数转换器(2)连接,模数转换器(2)连接电信号放大器(3)后再连接前置放大器(4),前置放大器(4)再与电极(7)连接;最后将电极(7)接入纳米孔微池(8)中;通过同步控制数据采集卡(5)控制制备电路模块(6)在纳米孔微池(8)中施加高电压并采集漏电流,控制程序根据漏电流的大小计算当前纳米孔尺寸并确定电压施加的终止,然后将电极(7)切换到前置放大器(4)采集弱电流,经过模数转换器(2)和电信号放大器(3)转换成数字信号并放大,最后通过计算机软件控制系统(1)进行采集和处理。

2.根据权利要求1所述的集纳米孔制备及检测分析于一体的装置,其特征在于,将所述前置放大器(4)、制备电路模块(6)、纳米孔微池(8)和电极(7)同时置入屏蔽箱(9),构成制备检测集成化部分。

3.根据权利要求1所述的集纳米孔制备及检测分析于一体的装置,其特征在于,所述计算机软件控制系统(1)包含控制模块、显示模块和数据处理模块,它们能控制电位的施加和电流的采集,对所获得的数据进行处理并可通过多通道信号实时显示。

4.根据权利要求1所述的集纳米孔制备及检测分析于一体的装置,其特征在于,所述模数转换器(2)和电信号放大器(3)采用多通道,能同时实现多通道电信号的采集和模数转换。

5.根据权利要求1所述的集纳米孔制备及检测分析于一体的装置,其特征在于,同步控制数据采集卡(5)控制施加高电压的形式包括方波、三角波、正弦波和脉冲电压。

6.根据权利要求1或2所述的集纳米孔制备及检测分析于一体的装置,其特征在于,所述电极(7)为一套能拆卸的电极(7),采用两电极系统或三电极系统。

7.根据权利要求6所述的集纳米孔制备及检测分析于一体的装置,其特征在于,所述电极(7)同时被前置放大器(4)和制备电路模块(6)使用,通过控制程序在前置放大器(4)与加工电路模块(6)两者之间切换。

8.根据权利要求1或2所述的集纳米孔制备及检测分析于一体的装置,其特征在于,所述制备电路模块(6)包括电压施加运算放大器和电流采集运算放大器。

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