[发明专利]一种Nand Flash坏块的使用方法

说明书

本发明公开了一种Nand Flash坏块的使用方法，其特征在于增加一个坏块表，所有新产生的坏块的块信息都增加到坏块表中，同时增加对坏块表的测试操作，测试每个坏块表，查找出可正常工作的好页，并建立一个坏块的好页信息表，将从坏块中查找出的可正常工作的好页用于存储只读数据。通过建立一种链式的坏块Page管理信息，把系统中的只读数据放在坏块中，既充分利用了坏块内的有用空间又可以节约Flash好块的空间来来提供给用户数据使用。

技术领域

本发明涉及固态硬盘控制技术，特别涉及一种Nand Flash坏块的使用方法。

背景技术

Nand Flash由于其实现原理的限制，在生产过程和使用过程中都可能产生坏块。在现有的存贮设备中，一般的用法都是把坏块直接丢弃，而随着NAND FLASH工艺的日益发展，NAND FLASH中的坏块率也在升高。但是一个坏块并非意味着整个块的page都是不可用的，因此存在极大的浪费。

发明内容

针对以上缺陷，本发明目的是如何有效的利用坏块,整体上提高NandFlash的利用率。

为了解决以上问题本发明提出了一种Nand Flash坏块的使用方法，其特征在于增加一个坏块表，所有新产生的坏块的块信息都增加到坏块表中，同时增加对坏块表的测试操作，测试每个坏块表，查找出可正常工作的好页，并建立一个坏块的好页信息表，将从坏块中查找出的可正常工作的好页用于存储只读数据。

所述的Nand Flash坏块的使用方法，其特征在于通过创建动态坏块链表存储坏块表，当系统检测到坏块时，对该坏块的每个页都进行测试，当该坏块中可正常工作的好页数据小于2时，直接丢弃该坏块，否则将该坏块的信息加入到坏块链表中。

所述的Nand Flash坏块的使用方法，其特征在于坏块表采用链表结构，链表的根节点存储系统检测出的第一个满足条件的坏块的第一好页的地址信息；当系统检测出新的坏块时，将前一个坏块的好页表、新坏块的好页表和新坏块的第一好页的地址信息写入前一个坏块的好页表的第一个好块。

所述的Nand Flash坏块的使用方法，其特征在于当系统检测到坏块时，对该坏块的每个页都进行测试，当该坏块中可正常工作的好页数据小于2时，直接丢弃该坏块；否则认定为满足条件。

本发明的有益效果是：通过建立一种链式的坏块Page管理信息，把系统中的只读数据放在坏块中，既充分利用了坏块内的有用空间又可以节约Flash好块的空间来来提供给用户数据使用。

附图说明

图1是坏块的好块链式结构示意图；

图2是坏块中的好页信息表的创建流程图；

图3是坏块中的好页链式管理信息表的创建过程。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1是坏块的好块链式结构示意图；系统通过链表的结构管理坏块的好块信息，系统发现的第一个坏块的好页信息存储在链表的根节点上，每个坏块的好块信息数据包括下一个坏块地址、下一个坏块好页信息表和当前坏块好页信息表，每个坏块的好块信息存储在坏块的第一个好页上，也正因为需要拿出一个好页用于存储好块信息，因此坏块中至少要求存在两个好页才有利用的价值，因此对于好页数小于2的坏块直接丢弃。