[发明专利]一种Nand Flash坏块的使用方法在审

专利信息
申请号: 201711497652.0 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN108231133A 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: 李招远;郭芳芳 申请(专利权)人: 东莞记忆存储科技有限公司;记忆科技(深圳)有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56;G11C29/00
代理公司: 广东广和律师事务所 44298 代理人: 董红海
地址: 523808 广东省东莞市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 坏块 坏块表 只读数据 查找 测试操作 管理信息 用户数据 块信息 页信息 好块 链式 存储 测试 节约
【权利要求书】:

1.一种NandFlash坏块的使用方法,其特征在于增加一个坏块表,所有新产生的坏块的块信息都增加到坏块表中,同时增加对坏块表的测试操作,测试每个坏块表,查找出可正常工作的好页,并建立一个坏块的好页信息表,将从坏块中查找出的可正常工作的好页用于存储只读数据。

2.根据权利要求1所述的NandFlash坏块的使用方法,其特征在于通过创建动态坏块链表存储坏块表,当系统检测到坏块时,对该坏块的每个页都进行测试,当该坏块中可正常工作的好页数据小于2时,直接丢弃该坏块,否则将该坏块的信息加入到坏块链表中。

3.根据权利要求1所述的NandFlash坏块的使用方法,其特征在于坏块表采用链表结构,链表的根节点存储系统检测出的第一个满足条件的坏块的第一好页的地址信息;当系统检测出新的坏块时,将前一个坏块的好页表、新坏块的好页表和新坏块的第一好页的地址信息写入前一个坏块的好页表的第一个好块。

4.根据权利要求3所述的NandFlash坏块的使用方法,其特征在于当系统检测到坏块时,对该坏块的每个页都进行测试,当该坏块中可正常工作的好页数据小于2时,直接丢弃该坏块;否则认定为满足条件。

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