[发明专利]控制程序测试方法和系统在审

专利信息
申请号: 201711457117.2 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN108153284A 公开(公告)日: 2018-06-12
发明(设计)人: 王汉军;吴先友;霍钧 申请(专利权)人: 北京金风科创风电设备有限公司
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 彭琼
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 控制程序 运行控制程序 测试 测试平台 控制测试 时钟同步 实际输出 输入变量 通讯协议 可编程逻辑控制器 测试技术领域 自动化设备 测试效率 写入测试 预设周期 写入
【权利要求书】:

1.一种控制程序测试方法,其特征在于,包括:

控制所述测试平台的时钟与可编程逻辑控制器PLC的时钟同步;

通过自动化设备规范ADS通讯协议,将所述测试平台设定的所述PLC的输入变量写入所述PLC,使得所述PLC根据所述输入变量运行控制程序;

通过所述ADS通讯协议,将所述PLC运行控制程序生成的实际输出变量写入所述测试平台;

在与所述PLC的时钟同步的所述测试平台的时钟下,控制所述测试平台利用所述PLC运行控制程序生成的实际输出变量,按照预设周期进行测试。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

利用TE1410插件对所述PLC的输入变量和实际输出变量进行解析,建立与用于传输所述PLC的输入变量的测试输入接口和用于传输所述PLC的实际输出变量的测试输出接口。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述PLC的输入变量和所述PLC的实际输出变量均以结构体的形式传输。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述结构体包括一个或两个以上存储段,每个所述存储段包括整数个所述输入变量或整数个所述实际输出变量,且所述存储段占用4个字节。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述结构体为嵌套结构体;所述嵌套结构体中的每层结构体均包括一个或两个以上所述存储段。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试平台包括测试用例框架,所述测试用例框架用于记录测试参数;

所述测试参数包括时间、输入变量、输入变量插值模式、期望输出变量、实际输出变量和输出变量比较容差。

7.一种控制程序测试系统,其特征在于,包括测试平台和可编程逻辑控制器PLC;

所述测试平台用于与所述PLC的时钟同步;通过自动化设备规范ADS通讯协议,将设定的所述PLC的输入变量写入所述PLC;通过所述ADS通讯协议,接收所述PLC运行控制程序生成的实际输出变量;在与所述PLC的时钟同步的所述测试平台的时钟下,利用所述实际输出变量,按照预设周期进行测试;

所述PLC用于通过所述ADS通讯协议,接收所述测试平台设定的输入变量;根据所述输入变量运行控制程序,并生成实际输出变量,将所述实际输出变量写入测试平台。

8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述测试平台包括测试子平台、测试用例框架、信号发生器、测试模型和ADS通讯模块;

所述测试子平台,用于按照预设周期周期性提供测试参数,将所述测试参数写入所述测试用例框架;

所述测试用例框架,用于记录所述测试参数,并将所述测试参数中的输入变量通过所述信号发生器输入至所述测试模型;

所述测试模型,用于将所述测试参数中的输入变量通过所述ADS通讯模块写入所述PLC;还用于通过所述ADS通讯模块接收所述PLC的实际输出变量,将所述PLC的实际输出变量传输至所述测试子平台;

所述测试子平台,还用于利用所述PLC的实际输出变量和所述测试参数中的期望输出变量进行测试,并生成测试结果;还用于将所述实际输出变量写入所述测试用例框架。

9.根据权利要求7或8所述的系统,其特征在于,所述PLC的输入变量和所述PLC的实际输出变量均以结构体的形式传输。

10.根据权利要求9所述的系统,其特征在于,所述结构体包括一个或两个以上存储段,每个所述存储段包括整数个所述输入变量或整数个所述实际输出变量,且所述存储段占用4个字节。

11.根据权利要求10所述的系统,其特征在于,所述结构体为嵌套结构体;所述嵌套结构体中的每层结构体均包括一个或两个以上所述存储段。

12.根据权利要求8所述的系统,其特征在于,所述测试参数包括时间、输入变量、输入变量插值模式、期望输出变量、实际输出变量和输出变量比较容差。

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