[发明专利]校准系统和校准方法

说明书

本发明公开一种校准系统，包括：电阻检测仪，适于检测电子器件的电阻；第一容器，容纳有适于蚀刻引线的蚀刻溶液；和加热器，适于加热电子器件。当电阻检测仪检测到的电子器件在第一温度时的第一电阻在第一预定范围以内时，利用加热器将电子器件加热到高于第一温度的第二温度，并利用电阻检测仪检测电子器件在第二温度时的第二电阻，如果检测到的第二电阻在第二预定范围之外时，利用蚀刻溶液对引线进行蚀刻，以调节电子器件的电阻值，直至电子器件在第二温度时的第二电阻在第二预定范围以内，使得电子器件的电阻满足预定的精度要求。本发明降低了电子器件的制造难度，同时还能够降低废品率，节约制造成本。

技术领域

本发明涉及一种适于校准电子器件的电阻的校准系统和校准方法。

背景技术

在现有技术中，电子器件的电阻应当满足预定的精度要求，即，制造出的电子器件的电阻应当在预定范围以内。为了保证制造出的电子器件的电阻能够满足预定的精度要求，必须提高制造精度，这增加了制造难度。

在现有技术中，如果制造出的电子器件的电阻不在预定范围以内，这个电子器件就成了一个废品，会被直接抛弃，这会造成极大的浪费。

发明内容

本发明的目的旨在解决现有技术中存在的上述问题和缺陷的至少一个方面。

根据本发明的一个方面，提供一种校准系统，适于校准电子器件的电阻，所述电子器件包括暴露在外的引线。所述校准系统包括：电阻检测仪，适于检测所述电子器件的电阻；第一容器，容纳有适于蚀刻所述引线的蚀刻溶液；和加热器，适于加热所述电子器件。当所述电阻检测仪检测到的所述电子器件在第一温度时的第一电阻在第一预定范围以内时，利用所述加热器将所述电子器件加热到高于第一温度的第二温度，并利用所述电阻检测仪检测所述电子器件在第二温度时的第二电阻，如果检测到的第二电阻在第二预定范围之外时，利用所述蚀刻溶液对所述引线进行蚀刻，以调节所述电子器件的电阻值，直至所述电子器件在第二温度时的第二电阻在第二预定范围以内。

根据本发明的一个实例性的实施例，所述第一温度小于40℃，所述第二温度高于300℃。

根据本发明的另一个实例性的实施例，所述校准系统还包括机器人，在所述机器人上安装有适于抓取所述引线的第一抓取器，所述第一抓取器与所述电阻检测仪电连接；当所述第一抓取器抓取住所述引线时，所述电子器件经由所述第一抓取器电连接至所述电阻检测仪，以便通过所述电阻检测仪检测所述电子器件的电阻。

根据本发明的另一个实例性的实施例，所述校准系统还包括：第一托盘，适于放置多个待校准的电子器件；第二抓取器，安装在所述机器人上，适于抓取所述电子器件的主体部；和视觉系统，适于引导所述第二抓取器从所述第一托盘上抓取所述电子器件。

根据本发明的另一个实例性的实施例，所述校准系统还包括转动台，所述第二抓取器将抓取的所述电子器件放置在所述转动台上，所述转动台在所述视觉系统的引导下，将所述放置在其上的所述电子器件转动到预定位置。

根据本发明的另一个实例性的实施例，所述校准系统还包括第二容器，在所述第二容器中容纳有用于对所述电子器件进行清洗的去离子水；当放置在所述转动台上的电子器件被转动到预定位置之后，所述机器人在所述视觉系统的引导下通过所述第一抓取器抓取住所述电子器件的引线，并将抓取的电子器件放入到所述第二容器中进行清洗，以便去除所述电子器件上的杂质。

根据本发明的另一个实例性的实施例，在所述电子器件被所述去离子水清洗之后，所述机器人将抓取的电子器件从所述第二容器中移出，并利用所述电阻检测仪检测所述电子器件在第一温度时的第一电阻。

根据本发明的另一个实例性的实施例，所述校准系统还包括第三容器，在所述第三容器中容纳有用于对所述电子器件进行清洗的纯净水；当所述电阻检测仪检测到的所述电子器件在第一温度时的第一电阻在第一预定范围以内时，所述机器人将抓取的电子器件放入到所述第三容器中进行清洗。