[发明专利]校准系统和校准方法

权利要求书

1.一种校准系统，适于校准电子器件(10)的电阻，所述电子器件(10)包括暴露在外的引线(12)，

所述校准系统包括：

电阻检测仪(400)，适于检测所述电子器件(10)的电阻；

第一容器(710)，容纳有适于蚀刻所述引线(12)的蚀刻溶液；和

加热器(500)，适于加热所述电子器件(10)，

当所述电阻检测仪(400)检测到的所述电子器件(10)在第一温度时的第一电阻在第一预定范围以内时，利用所述加热器(500)将所述电子器件(10)加热到高于第一温度的第二温度，并利用所述电阻检测仪(400)检测所述电子器件(10)在第二温度时的第二电阻，如果检测到的第二电阻在第二预定范围之外时，利用所述蚀刻溶液对所述引线(12)进行蚀刻，以调节所述电子器件(10)的电阻值，直至所述电子器件(10)在第二温度时的第二电阻在第二预定范围以内；

其中，所述校准系统还包括机器人(100)，在所述机器人(100)上安装有适于抓取所述引线(12)的第一抓取器(110)，所述第一抓取器(110)与所述电阻检测仪(400)电连接；

当所述第一抓取器(110)抓取住所述引线(12)时，所述电子器件(10)经由所述第一抓取器(110)电连接至所述电阻检测仪(400)，以便通过所述电阻检测仪(400)检测所述电子器件(10)的电阻。

2.根据权利要求1所述的校准系统，其特征在于：所述第一温度小于40℃，所述第二温度高于300℃。

3.根据权利要求1所述的校准系统，其特征在于，所述校准系统还包括：

第一托盘(200)，适于放置多个待校准的电子器件(10)；

第二抓取器(120)，安装在所述机器人(100)上，适于抓取所述电子器件(10)的主体部(11)；和

视觉系统(130)，适于引导所述第二抓取器(120)从所述第一托盘(200)上抓取所述电子器件(10)。

4.根据权利要求3所述的校准系统，其特征在于：

所述校准系统还包括转动台(300)，所述第二抓取器(120)将抓取的所述电子器件(10)放置在所述转动台(300)上，所述转动台(300)在所述视觉系统(130)的引导下，将放置在所述转动台上的所述电子器件(10)转动到预定位置。

5.根据权利要求4所述的校准系统，其特征在于：

所述校准系统还包括第二容器(720)，在所述第二容器(720)中容纳有用于对所述电子器件(10)进行清洗的去离子水；

当放置在所述转动台(300)上的电子器件(10)被转动到预定位置之后，所述机器人(100)在所述视觉系统(130)的引导下通过所述第一抓取器(110)抓取住所述电子器件(10)的引线(12)，并将抓取的电子器件(10)放入到所述第二容器(720)中进行清洗，以便去除所述电子器件(10)上的杂质。

6.根据权利要求5所述的校准系统，其特征在于：

在所述电子器件(10)被所述去离子水清洗之后，所述机器人(100)将抓取的电子器件(10)从所述第二容器(720)中移出，并利用所述电阻检测仪(400)检测所述电子器件(10)在第一温度时的第一电阻。

7.根据权利要求6所述的校准系统，其特征在于：

所述校准系统还包括第三容器(730)，在所述第三容器(730)中容纳有用于对所述电子器件(10)进行清洗的纯净水；

当所述电阻检测仪(400)检测到的所述电子器件(10)在第一温度时的第一电阻在第一预定范围以内时，所述机器人(100)将抓取的电子器件(10)放入到所述第三容器(730)中进行清洗。