[发明专利]一种快速测量不同传输波长下光纤链路衰减特性的装置及方法

说明书

一种快速测量不同传输波长下光纤链路衰减特性的装置及方法，装置包括多波长脉冲光源控制器、WDM合波器、光纤环形器、WDM分波器、多路光电转换单元和触发控制及信号处理单元，多波长脉冲光源控制器的输入端连接触发控制及信号处理单元、输出端连接WDM合波器的输入端，WDM合波器的输出端连接光纤环形器的第一端口，光纤环形器的第二端口通过光接口连接待测光纤，光纤环形器的第三端口连接至WDM分波器的输入端，WDM分波器的输出端连接多路光电转换单元的输入端，多路光电转换单元的输出端连接至触发控制及信号处理单元。本发明测试时间短，测试效果好，高效测量，插拔一次待测光纤即可同时获得不同传输波长下的光纤链路衰减特性。

技术领域

本发明属于光纤特征参数测试测量领域，具体涉及一种快速测量不同传输波长下光纤链路衰减特性的装置及方法。

背景技术

光纤衰减是指光在光纤中传输的过程中，随着传输距离的增加，光功率逐渐减小的现象。导致光纤衰减的因素很多，主要有固有损耗(散射损耗、吸收损耗和因光纤结构不完善引起的损耗)，附加损耗(微弯损耗、弯曲损耗和接续损耗)。光纤衰减特性是衡量光纤性能的重要指标之一，在光纤生产环节，需要测量光纤在不同传输光波长(典型波长包括1310nm，1490nm，1550nm，1625nm)下的衰减特性。

目前光纤衰减的测量方法主要有截断法和背向散射测量法。其中，截断法如图1所示，利用稳定光源在待测光纤中输入稳定光功率，首先在末端测量整根待测光纤的输出功率P1之后，在距离光源端尽量短处(1m-2m)截断光纤，然后再次测量遗留小段光纤的输出功率P2，忽略遗留光纤衰减，此次测量功率可认为是光源输出功率，最后按照光源输出功率与整根待测光纤的输出功率之差可得整段待测光纤衰减P＝P2-P1，此方法需要反复插拔，光纤接头耦合极易引入测量误差，且不能观察光纤衰减分布，在光纤生产过程中一般不采用此法；背向散射测量法如图2所示，主要利用光时域反射仪，通过将待测光纤分次耦合到不同波长的光时域反射仪，或者利用光开关等耦合器件切换到不同波长光时域反射仪，以获得不同传输波长下的光纤衰减特性，该方法不需破坏光纤，但多波长测试过程中测试环境复杂，操作步骤较多，费时费力，容易引入操作测量误差。

发明内容

本发明要解决的技术问题是，针对传统光纤生产测试环节光纤衰减特性测量方案存在的上述不足，提供一种快速测量不同传输波长下光纤链路衰减特性的装置及方法，测试时间短，测试效果好，操作简单，高效率测量不同传输波长下光纤链路衰减特性。

本发明为解决上述技术问题所采用的技术方案是：

一种快速测量不同传输波长下光纤链路衰减特性的装置，主要包括：多波长脉冲光源控制器、WDM合波器、光纤环形器、WDM分波器、多路光电转换单元和触发控制及信号处理单元，多波长脉冲光源控制器的输入端连接触发控制及信号处理单元、输出端连接WDM合波器的输入端，WDM合波器的输出端连接光纤环形器的第一端口，光纤环形器的第二端口通过光接口连接待测光纤，光纤环形器的第三端口连接至WDM分波器的输入端，WDM分波器的输出端连接多路光电转换单元的输入端，多路光电转换单元的输出端连接至触发控制及信号处理单元；

所述多波长脉冲光源控制器用于接收触发控制及信号处理单元产生的同步触发信号，生成不同待测波长脉冲光源；

所述WDM合波器用于将不同待测波长脉冲光源耦合进入一根光纤传输，将不同待测波长脉冲光源组合成不同波长光脉冲队列；

所述光纤环形器用于将不同波长光脉冲队列耦合到待测光纤，控制光信号同步传输，并输出待测光纤中返回的不同波长光脉冲队列的背向散射信号；

所述WDM分波器用于将不同波长测试光脉冲队列的背向散射信号分解到不同光纤接收回路中；

所述多路光电转换单元包括多个光信号接收单元，用于接收光纤接收回路中的不同波长测试光脉冲队列的背向散射信号，同步并行光电转换，输出电信号；