[发明专利]用于操作发光二极管的装置和方法以及用于热保护的系统

说明书

公开了一种用于热保护的方法、装置和系统。装置可以被配置成：确定一组发光二极管(LED)的当前温度信息，接收该组LED的所请求的光模式的指示，并且基于当前温度信息和所请求的光模式来确定该组LED的预测温度信息。在该示例中，装置还被配置成：响应于确定预测温度信息指示该组LED在所请求的光模式下工作时在不安全温度下工作，在与所请求的光模式不同的修改的光模式下操作该组LED。

技术领域

本公开涉及发光器件，并且更具体地，涉及与发光二极管(LED)相关联的技术和电路。

背景技术

发光器件例如发光二极管(LED)可以由驱动电路来操作。驱动电路可以通过改变流过LED的平均电流量来控制由LED输出的光强度。例如，驱动电路可以增加输出至LED的电流的占空比，以增加由LED输出的光强度。类似地，驱动电路可以减小输出至LED的电流的占空比，以减小由LED输出的光强度。

发明内容

本公开描述了用于发光器件的热保护的技术、装置和系统。在一些示例中，系统可以依靠每个发光二极管(LED)处的温度测量来确保LED在安全温度下工作。例如，系统可以与超过与第一LED相关联的安全工作温度的温度测量对应地减少通过第一LED的电流。在该示例中，系统可以与小于与第二LED相关联的安全工作温度的温度测量对应地保持或增加通过第二LED的电流。然而，在一些应用中，例如许多LED(例如1024)被布置为形成矩阵LED装置的应用中，在矩阵LED装置的每个LED处包括用于温度测量的热传感器可能是成本高昂的。

根据本公开的一个或更多个方面，不是仅依靠每个LED处的温度测量，而是提出了使用预测温度信息的热保护技术。更具体地，不是仅依靠温度测量来检测在LED处何时出现潜在的破坏性温度，而是提出了使用预测温度信息来主动防止在LED处出现潜在的破坏性温度的热保护技术。此外，一些发光装置——例如但不限于矩阵LED装置——可能具有空间限制，从而阻止了在矩阵LED装置内包含热传感器。例如，具有1024个LED的矩阵LED装置可能没有空间来包括用于获得1024个LED中的每一个处的温度测量的1024个热传感器。因此，可以消除一组LED(例如LED矩阵)故障的风险，即使在空间限制可能阻止该组LED中的每个LED处的传感器的装置中也是如此。

在一些示例中，本公开涉及一种装置，该装置被配置成：确定一组LED的当前温度信息；接收该组LED的所请求的光模式(pattern)的指示；以及基于当前温度信息和所请求的光模式来确定该组LED的预测温度信息。光模式可以指示一组LED的每个LED的光强度(例如，灰度图片)。在该组LED是LED矩阵装置的情况下，光模式可以指示矩阵LED装置的每个像素(例如，LED)的光强度。在该示例中，该装置还被配置成：响应于确定预测温度信息指示该组LED在所请求的光模式下工作时在不安全的温度下工作，在与所请求的光模式不同的修改的光模式下操作该组LED。

在一些示例中，本公开涉及一种方法，包括：由处理器确定一组LED的当前温度信息；由处理器接收该组LED的所请求的光模式的指示；以及由处理器基于当前温度信息和所请求的光模式来确定该组LED的预测温度信息。在该示例中，该方法还包括：响应于确定预测温度信息指示该组LED在所请求的光模式下工作时在不安全温度下工作，由处理器在与所请求的光模式不同的修改的光模式下操作该组LED。