[发明专利]一种用于芯片仿真验证的信息记录方法及系统

权利要求书

1.一种用于芯片仿真验证的信息记录方法，用于在对芯片进行功能性验证时对验证结果及状态的记录，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1，提供待验证芯片，并在该待验证芯片中设置验证环境；

步骤2，基于所述待验证芯片的功能为该待验证芯片设计对应的测试激励；

步骤3，基于所述待验证芯片为该待验证芯片设置仿真验证过程中需要记录下的至少一条记录信息；

步骤4，为所设计的测试激励设置对应的控制功能，将该控制功能与测试激励对应地封装在一起，所述的控制功能使用预先定义的判断条件来控制所述至少一条记录信息的状态；

步骤5，执行仿真验证过程：由验证环境读取测试激励并解析与该测试激励对应地封装的控制功能，基于测试激励进行芯片功能仿真验证，并基于所解析的控制功能的控制进行所述至少一条记录信息的记录。

2.如权利要求1所述的用于芯片仿真验证的信息记录方法，其特征在于，所述的需要记录下的至少一条记录信息分为如下两种：其一为必需记录型记录信息，其二为非必需记录型记录信息。

3.如权利要求2所述的用于芯片仿真验证的信息记录方法，其特征在于，所述的控制功能使用预先定义的判断条件来控制所述至少一条记录信息的状态，包括：对记录信息的开关状态的控制、对记录信息的范围控制以及对记录信息的时间控制；其中所述对记录信息的开关状态的控制可以控制记录信息的打开或关闭状态，所述范围控制具体为同一级别的不同类型的记录信息，要能分开控制，所述时间控制为各类型的记录信息都可以随时打开或关闭。

4.如权利要求3所述的用于芯片仿真验证的信息记录方法，其特征在于，所述必需记录型记录信息的缺省开关状态为打开，所述非必需记录型记录信息的缺省开关状态为关闭。

5.如权利要求1-4任一项所述的用于芯片仿真验证的信息记录方法，其特征在于，所述控制功能采用System Verilog断言机制来实现，所述预先定义的判断条件包括但不限于时间、测试激励的状态、芯片的内部状态，所述测试激励及控制功能选择采用程序代码或者读入配置文件的方式来实现。

6.一种用于芯片仿真验证的信息记录系统，用于在对芯片进行功能性验证时对验证结果及状态的记录，其特征在于，包括：

平台提供模块，用于提供待验证芯片，并在该待验证芯片中设置验证环境；

测试激励设置模块，用于基于所述待验证芯片的功能为该待验证芯片设计对应的测试激励；

记录信息设置模块，用于基于所述待验证芯片为该待验证芯片设置仿真验证过程中需要记录下的至少一条记录信息；

控制功能设置模块，用于为所设计的测试激励设置对应的控制功能，将该控制功能与测试激励对应地封装在一起，所述的控制功能使用预先定义的判断条件来控制所述至少一条记录信息的状态；

执行模块，用于执行如下仿真验证过程：由验证环境读取测试激励并解析与该测试激励对应地封装的控制功能，基于测试激励进行芯片功能仿真验证，并基于所解析的控制功能的控制进行所述至少一条记录信息的记录。

7.如权利要求6所述的用于芯片仿真验证的信息记录系统，其特征在于，所述记录信息设置模块设置的需要记录下的至少一条记录信息分为如下两种：其一为必需记录型记录信息，其二为非必需记录型记录信息。

8.如权利要求7所述的用于芯片仿真验证的信息记录系统，其特征在于，所述的控制功能使用预先定义的判断条件来控制所述至少一条记录信息的状态，包括：对记录信息的开关状态的控制、对记录信息的范围控制以及对记录信息的时间控制；其中所述对记录信息的开关状态的控制可以控制记录信息的打开或关闭状态，所述范围控制具体为同一级别的不同类型的记录信息，要能分开控制，所述时间控制为各类型的记录信息都可以随时打开或关闭。

9.如权利要求8所述的用于芯片仿真验证的信息记录系统，其特征在于，所述必需记录型记录信息的缺省开关状态为打开，所述非必需记录型记录信息的缺省开关状态为关闭。

10.如权利要求6-9任一项所述的用于芯片仿真验证的信息记录系统，其特征在于，所述控制功能采用System Verilog断言机制来实现，所述预先定义的判断条件包括但不限于时间、测试激励的状态、芯片的内部状态，所述测试激励及控制功能选择采用程序代码或者读入配置文件的方式来实现。