[发明专利]轻量级、低开销调试总线在审
申请号: | 201711390331.0 | 申请日: | 2017-12-21 |
公开(公告)号: | CN108228408A | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
发明(设计)人: | L.H.鲁宾;D.C.坦嫩鲍姆 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G06F11/267 | 分类号: | G06F11/267 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 钱大勇 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 调试 总线 包装电路 互连总线 组合逻辑块 非侵入式 核心时钟 总线接口 配置 互连 菊花链方式 单向通信 管理组合 低开销 逻辑块 处理器 激活 转换 通信 | ||
1.一种装置,包括:
互连总线,被配置为在处理器的正常操作期间连接和管理组合逻辑块,并且与核心时钟同步进行操作;
互连到调试总线接口,被配置为转换互连总线和调试总线之间的通信;
调试总线,包括多个调试包装电路,所述多个调试包装电路以菊花链方式布置以用于单向通信,并且被配置为与核心时钟同步进行操作;以及
其中,所述多个调试包装电路中的每一个被配置为:
识别相应调试包装电路是否被调试总线激活,
从相应组合逻辑块接收非侵入式输入,和
将来自相应组合逻辑块的非侵入式输入放置在调试总线上。
2.根据权利要求1所述的装置,其中,多个调试包装电路中的每一个包括:
针对调试设计的接口电路,被配置为在被调试总线激活时,将来自相应组合逻辑块的第一数量的非侵入式信号时间复用到第二数量的调试输出信号。
3.根据权利要求1所述的装置,其中,多个调试包装电路中的每一个包括:
比较器,被配置为基于固定标识符确定相应调试包装电路是否被调试总线激活;以及
多路复用器,被配置为基于相应调试包装电路是否被激活,将调试总线上的通信转发到下一个调试包装电路,或者将来自相应组合逻辑块的非侵入式输入放置在调试总线上。
4.根据权利要求1所述的装置,其中,调试总线被配置为在第一时钟周期上发送调试包装电路地址,并且在第二时钟周期上发送数据。
5.根据权利要求1所述的装置,其中,调试总线包括多个重新路由电路,其中,每个重新路由电路被配置为使相应调试包装电路旁路,以使得相应调试包装电路被从调试总线临时去除。
6.根据权利要求1所述的装置,其中,多个调试包装电路中的每一个包括同步电路,所述同步电路以核心时钟进行操作并且被配置为将多个调试包装电路彼此分离。
7.根据权利要求1所述的装置,其中,多个调试包装电路中的每一个被配置为仅当互连总线被放置在第一传输模式中时才被激活,其中,第一传输模式也用于非调试通信。
8.一种方法,包括:
经由互联总线来发送调试命令,所述互联总线被配置为在处理器的正常操作期间连接和管理组合逻辑块并且与核心时钟同步进行操作;
转换互连总线和调试总线之间的调试命令,其中,调试总线包括多个调试包装电路,所述多个调试包装电路以菊花链方式布置以用于单向通信,并且与核心时钟同步进行操作;
响应于调试命令,将来自选择的调试包装电路的数据放置在调试总线上;以及
经由互连总线返回数据。
9.根据权利要求8所述的方法,其中,所述多个调试包装电路中的每一个被配置为:
识别相应调试包装电路是否被调试总线激活;
从相应组合逻辑块接收非侵入式输入;以及
将来自相应组合逻辑块的非侵入式输入放置在调试总线上。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,多个调试包装电路中的每一个包括:
针对调试设计的接口电路,被配置为在被调试总线激活时,将来自相应组合逻辑块的第一数量的非侵入式信号时间复用到第二数量的调试输出信号。
11.根据权利要求8所述的方法,其中,多个调试包装电路中的每一个包括:
比较器,被配置为基于固定标识符确定相应调试包装电路是否被调试总线激活;以及
多路复用器,被配置为基于相应调试包装电路是否被激活,将调试总线上的通信转发到下一个调试包装电路,或者将来自相应组合逻辑块的非侵入式输入放置在调试总线上。
12.根据权利要求8所述的方法,其中,将来自选择的调试包装电路的数据放置在调试总线上包括:
在第一时钟周期上发送调试包装电路地址,以及
在第二时钟周期上发送数据。
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