[发明专利]可切换式3D模组的不良检测方法

说明书

本发明提供了一种可切换式3D模组的不良检测方法。该检测方法分别采用三种不同的不良区域检测步骤对3D模组的不良区域进行检查，并通过分别对上述三种检测步骤检测结果进行逻辑判断，相比于现有技术中仅采用一种检测方式的检测方法，提高了检测精度，使检测到的均为表面划伤、内部缺陷等真实不良，有效避免了漏检和过检等非真实不良的情况。经过实践验证，本申请的检测方法所提供的检测结果可靠性较高。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体而言，涉及一种可切换式3D模组的不良检测方法。

背景技术

现有技术中对于可切换式3D模组(3D Cell)，在进行不良检验时通常进行人工检查或采用自动光学检查技术。上述自动光学检查技术通常包括两种方式：1)在可切换式3D模组上方直接放置能够采集光线强度的相机(如CCD相机)，以采集3D模组的光学图像，从而通过判断光学图像中存在的灰阶来判断3D模组中是否存在不良区域；2)在相机与3D模组之间加一张偏光片，由于穿过3D Cell的出射光为偏振光，从而通过该偏光片能够通过相机观察到全黑图像，若此时3D Cell中存在不良区域，该不良区域就会影响该部分的液晶配像，从而改变通过3D Cell的光线偏振方向，进而与周围呈现灰阶差异，然后通过相机获取光学图像，并通过算法识别出存在灰阶差异部分，就能够分辨出3D Cell中存在的不良区域，如图1所示。

上述可切换式裸眼3D的最终产品的组成方式是将3D Cell贴合在液晶显示模块(LCM)表面，不良检查时需要以无偏光片人员检出为准。然而，上述3D模组的检测方法存在以下问题：检测时是在3D Cell上直接架设相机拍摄，由于相机的传感器与产品结构间会产生干涉，从而会导致3D Cell中的部分不良表现轻微，进而导致漏检；并且，在将自动光学检查技术结合偏光片的测试方法中，需要将相机前的偏光片旋转至全黑，此时不良表现会更加明显，从而易导致部分裸视条件下表现较轻微或不可见的不良也会被检出，进而导致过检。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种可切换式3D模组的不良检测方法，以解决现有技术中3D模组的检测方法存在漏检和过检的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种可切换式3D模组的不良检测方法，包括相互独立实施的以下步骤：a，在环境光或自然光下检查3D模组的表面是否存在不良区域；b，采集从二次元影像显示组件发射并穿过3D模组的第一光线得到第一光学图像，并得到第一光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断3D模组内是否存在不良区域及不良区域的位置；c，采集从二次元影像显示组件发射并依次穿过3D模组及偏光片后的第二光线得到第二光学图像，并得到第二光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断3D模组内是否存在不良区域及不良区域的位置，当在步骤a中检测出不良区域时，判断3D模组存在真实不良；当在步骤a中未检测出不良区域而在步骤b中检测出不良区域时，判断3D模组存在真实不良；当在步骤a和步骤b中均未检测出不良区域而在步骤c中检测出不良区域时，判断3D模组的不良区域为非真实不良。

进一步地，步骤a包括以下过程：采用光学检测设备对3D模组进行人工外观检查。

进一步地，3D模组包括相对的第一表面和第二表面，步骤a包括以下过程：采集被第一表面反射的第三光线得到第三光学图像，并得到第三光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断3D模组内是否存在不良区域及不良区域的位置；采集被第二表面反射的第四光线得到第四光学图像，并得到第四光学图像的灰阶，进而根据灰度差异判断3D模组内是否存在不良区域及不良区域的位置。

进一步地，步骤c中的第二光学图像为全黑图像。

进一步地，步骤c包括以下过程：S1，调节偏光片，使图像采集设备采集到全黑图像，并记录全黑图像；S2，得到全黑图像的灰阶，并根据灰度差异，判断3D模组内是否存在不良区域及不良区域的位置。

进一步地，偏光片为镜面线偏光片。