[发明专利]一种信号质量检测电路及方法

说明书

本发明提供一种信号质量检测电路，其包括采样电路和比较电路。该采样电路根据多个标称采样点采样与目标设备相关的输入信号，并分别生成对应于该多个标称采样点的多个已采样比特。该多个标称采样点由采样时间和采样参考电压的不同结合设置，并且该多个标称采样点的数量大于4。该比较电路根据该多个已采样比特执行比较，以生成信号质量检测结果。本发明还提供对应的方法。本发明能实现测量设备的电信号的信号质量，成本低。

技术领域

本发明的所公开实施例涉及信号质量检测方案，且更具体而言，涉及一种根据二维标称采样点图案生成信号质量检测结果的信号质量检测电路及相关信号质量检测方法。

背景技术

示波器是一种电子测试仪器，其允许观察不断变化的信号电源，且通常显示作为时间函数的一个或多个信号的二维图。因此，该示波器通常用于观察随着时间变化的电信号(例如，电压信号)的变化。为了确定信号特性，如幅度、频率、失真以及其他，可以分析所观察的波形。但是，使用示波器来测量处于测试中的设备的电信号的信号质量，相关准备工作非常麻烦。此外，需要该示波器使用探针来接收来自于处于测试中的设备的信号。然而，探针可能无法直接与处于测试中的设备接触，并且因此通过中间的介质/结构来与处于测试中的设备间接连接，因此，处于测试中的设备的该电信号的实际信号质量与所测试的信号质量可能不相同。

示波器相当昂贵，并不是每个制造商能够支付的。此外，示波器需要校准、维修等。因此，可能需要相当的示波器的维修费用。另外，需要大量的人力来使用示波器执行信号质量测量。因此，使用示波器来测量处于测试中的设备的电信号的信号质量并不是节省成本的方案。

因此，需要一种能够检测处于测试中的设备(例如，动态随机存取存储器)的电信号的实际信号质量而无需示波器的新型信号质量测试方案。

发明内容

本发明的目标之一是提供一种根据二维标称采样点图案生成信号质量检测结果的信号质量检测电路及相关信号质量检测方法。

根据本发明的第一方面，公开一种实例性的信号质量检测电路。所述实例性的信号质量检测电路包括采样电路和比较电路。该采样电路用于根据多个标称采样点采样与目标设备相关的输入信号，并分别生成对应于该多个标称采样点的多个已采样比特，其中，该多个标称采样点由采样时间和采样参考电压的不同结合设置，且该多个标称采样点的数量大于4。该比较电路用于通过根据该多个已采样比特执行比较，生成信号质量检测结果。

根据本发明的第二方面，公开一种实例性的信号质量检测方法。该实例性的信号质量检测方法包括：通过采用时间和采样参考电压的不同结合设置该多个标称采样点，其中该多个标称采样点的数量大于4；根据该多个标称采样点采样与目标设备相关的输入信号，并分别生成对应于该多个标称采样点的多个已采样比特；以及通过根据该多个已采样比特执行比较，生成信号质量检测结果。

本发明通过采样时间和采样参考电压的不同结合来设置多个标称采样点，进而根据该多个标称采样点对输入信号进行采样，并生成已采样比特，根据已采样比特生成信号质量检测结果，从而实现测量设备的电信号的信号质量，成本低。

在阅读以下对各图及图式中所例示的优选实施例的详细说明之后，本发明的这些及其它目标无疑将对所属领域的技术人员显而易见。

附图说明

图1是例示根据标称采样点对输入信号执行的采样操作的示意图。

图2是例示根据本发明实施例的二维标称点图案的示意图。

图3是例示根据本发明实施例的信号质量检测电路的示意图。

图4是例示根据本发明实施例的具有内部信号质量检测电路的存储器芯片的示意图。

图5是例示根据本发明实施例的图3中采样电路和比较电路的一种电路设计的示意图。