[发明专利]一种信号质量检测电路及方法在审
申请号: | 201711383217.5 | 申请日: | 2017-12-20 |
公开(公告)号: | CN108414822A | 公开(公告)日: | 2018-08-17 |
发明(设计)人: | 徐斌桓 | 申请(专利权)人: | 联发科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R19/25 | 分类号: | G01R19/25 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 何青瓦 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 采样 采样点 标称 信号质量检测 采样电路 电路 质量检测结果 参考电压 测量设备 目标设备 生成信号 | ||
1.一种信号质量检测电路,其特征在于,包括:
采样电路,用于根据多个标称采样点采样与目标设备相关的输入信号,并分别生成对应于该多个标称采样点的多个已采样比特,其中,该多个标称采样点由采样时间和采样参考电压的不同结合设置,且该多个标称采样点的数量大于4;以及
比较电路,用于通过根据该多个已采样比特执行比较,生成信号质量检测结果。
2.如权利要求1中所述的信号质量检测电路,其特征在于,该目标设备为存储器芯片。
3.如权利要求2中所述的信号质量检测电路,其特征在于,由该存储器芯片的数据引脚接收该输入信号。
4.如权利要求2中所述的信号质量检测电路,其特征在于,由该存储器芯片的命令引脚接收该输入信号。
5.如权利要求2中所述的信号质量检测电路,其特征在于,由该存储器芯片的地址引脚接收该输入信号。
6.如权利要求2中所述的信号质量检测电路,其特征在于,该输入信号是被生成至该存储器芯片的输出引脚的输出信号的回送信号。
7.如权利要求2中所述的信号质量检测电路,其特征在于,该信号质量检测电路包含在该存储器芯片中,且该比较电路进一步用于将该信号质量检测结果写入到该存储器芯片的模式寄存器。
8.如权利要求1中所述的信号质量检测电路,其特征在于,该多个标称采样点的数量不小于9。
9.如权利要求1中所述的信号质量检测电路,其特征在于,该多个标称采样点包括由相同采样时间和不同采样参考电压设置的至少三个标称采样点。
10.如权利要求9中所述的信号质量检测电路,其特征在于,相邻采样参考电压之间的差相等。
11.如权利要求1中所述的信号质量检测电路,其特征在于,该多个标称采样点包括由相同采样参考电压和不同采样时间设置的至少三个标称采样点。
12.如权利要求11中所述的信号质量检测电路,其特征在于,相邻采样时间之间的差相等。
13.如权利要求1中所述的信号质量检测电路,其特征在于,该采样电路包括:
多个采样保持电路,输入端口被馈入该输入信号,时钟输入端口被馈入不同的时钟以提供不同的采样时间,用于在同一比特周期内的该不同的采样时间内对该输入信号进行采样,并输出多个已采样电压;
多路复用器,用于逐个输出多个不同的采样参考电压;以及
多个比较器;用于比较该多个已采样电压和该多个采样参考电压,以生成该多个已采样比特;
该比较电路包括:
多个比较器,用于对该多个已采样比特进行比较,以生成该信号质量检测结果。
14.如权利要求1中所述的信号质量检测电路,其特征在于,该采样电路包括:
多个采样保持电路,用于生成多个已采样电压;以及
多个比较器,用于比较该多个已采样电压与多个采样参考电压,以生成该多个已采样比特;
该比较电路包括:
多个比较器,用于对该多个采样比特进行比较,以生成该信号质量检测结果。
15.如权利要求1中所述的信号质量检测电路,其特征在于,还包括:
电压生成器,用于提供不同的采样参考电压;以及
时钟生成器,用于提供具有相同频率且不同相位的多个时钟以提供不同的采样时间。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联发科技股份有限公司,未经联发科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711383217.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。