[发明专利]仪器电控设备加速退化试验方法和系统

说明书

本发明涉及一种仪器电控设备加速退化试验方法，首先根据仪器电控设备试验样品的原始性能参数对仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测，然后合理地设置加速退化试验条件，在进行加速退化试验置换，再对试验所得的失效时间数据进行可靠性分析，确定满足可靠性条件的失效时间数据作为试验样品的试验数据，能够有效提高加速退化试验数据的可靠性。

技术领域

本发明涉及加速退化试验技术领域，特别是涉及一种仪器电控设备加速试 验数据处理方法和系统。

背景技术

加速退化试验是用加大试验应力来缩短试验周期的一种寿命试验方法。加 速退化试验方法为高可靠长寿命产品的可靠性评定提供了基础。加速退化试验 的类型很多，常用的是如下三类：

(1)恒定应力加速退化试验，简称恒加试验，即先选一组加速应力水平， 然后将一定数量的样品分为若干组，每组在一个应力水平下进行寿命试验，直 到各组均有一定数量的样品发生失效为止。

(2)步进应力加速退化试验，简称步加试验，即是先选定一组均高于正常 应力水平的加速应力水平，试验开始时把一定数量的样品放置于初始水平下进 行寿命试验，经过一段时间后提高应力水平继续进行寿命试验，经过一段时间 后将应力水平提高至更高的应力水平，如此继续下去，直至有一定数量的样品 发生失效为止。

(3)序进应力加速退化试验，简称序加试验。它与步加试验基本相同，不 同之处在于它施加的加速应力水平将随时间连续上升。

然而，传统的加速退化试验方式的数据可靠性较低。

发明内容

基于此，有必要针对传统的加速退化试验方式的数据可靠性较低的问题， 提供一种仪器电控设备加速退化试验方法和系统。

一种仪器电控设备加速退化试验方法，包括以下步骤：

获取仪器电控设备试验样品的原始性能参数，根据所述原始性能参数对仪 器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测；

根据预测的性能参数保质期设置加速退化试验条件，然后对仪器电控设备 试验样品进行加速退化试验，获取仪器电控设备试验样品性能退化量到达预设 失效阈值所对应的失效时间数据；

对所述失效时间数据进行可靠性分析，确定满足可靠性条件的失效时间数 据作为试验样品的试验数据。

一种仪器电控设备加速退化试验系统，包括：

预测模块，用于获取仪器电控设备试验样品的原始性能参数，根据所述原 始性能参数对仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测；

获取模块，用于根据预测的性能参数保质期设置加速退化试验条件，然后 对仪器电控设备试验样品进行加速退化试验，获取仪器电控设备试验样品性能 退化量到达预设失效阈值所对应的失效时间数据；

分析模块，用于对所述失效时间数据进行可靠性分析，确定满足可靠性条 件的失效时间数据作为试验样品的试验数据。

上述加速退化试验方法和系统，首先根据仪器电控设备试验样品的原始性 能参数对仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测，然后合理地设置 加速退化试验条件，在进行加速退化试验置换，再对试验所得的失效时间数据 进行可靠性分析，确定满足可靠性条件的失效时间数据作为试验样品的试验数 据，能够有效提高加速退化试验数据的可靠性。

附图说明

图1为一个实施例的仪器电控设备加速退化试验方法流程图；

图2为一个实施例的仪器电控设备加速退化试验系统的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的技术方案进行说明。