[发明专利]仪器电控设备加速退化试验方法和系统

权利要求书

1.一种仪器电控设备加速退化试验方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取仪器电控设备试验样品的原始性能参数，根据所述原始性能参数对仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测；

根据预测的性能参数保质期设置加速退化试验条件，然后对仪器电控设备试验样品进行加速退化试验，获取仪器电控设备试验样品性能退化量到达预设失效阈值所对应的失效时间数据；

获取多个预选数据分布模型；

根据如下公式计算各个预选数据分布模型的误差指标参数：

式中，ρ_min为所述误差指标参数，E_min为误差极差的最小值，Cv_min为误差变异系数的最小值，为误差方差的最小值，D_min为最大偏差的最小值，σ_F为函数平均误差的最小值，σ_f为概率密度函数平均误差的最小值，K为预选数据分布模型的数量；

将误差指标参数最小的预选数据分布模型作为数据分布模型；

对所述数据分布模型进行拟合优度检验，若检验合格，根据所述数据分布模型对所述失效时间数据进行可靠性分析；

确定满足可靠性条件的失效时间数据作为试验样品的试验数据。

2.根据权利要求1所述的仪器电控设备加速退化试验方法，其特征在于，根据所述原始性能参数对仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测的步骤包括：

根据所述原始性能参数计算所述仪器电控设备试验样品的伪失效时间数据；

根据所述伪失效时间数据对预先选取的可靠性分布模型进行求解；

根据求解后的可靠性分布模型对所述仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测。

3.根据权利要求1所述的仪器电控设备加速退化试验方法，其特征在于，所述加速退化试验条件包括仪器电控设备试验样本的数量、全部加速退化试验的总时间和应力水平。

4.根据权利要求3所述的仪器电控设备加速退化试验方法，其特征在于，对所述数据分布模型进行拟合优度检验的步骤包括：

取原假设H₀：当失效时间服从指数分布时，则统计量为：

式中，若当前为定数截尾试验，d的值取r-1，若当前为定时截尾数据，d的值取r，T^*是加速退化试验到终止的总试验时间，T_k是到第k次失效的总试验时间，r为在截尾时间内失效的产品个数；

当H₀成立时，χ²服从分布，对于给定的显著性水平α，若统计量的观测值满足或者就拒绝H₀，反之则接受H₀。

5.根据权利要求1所述的仪器电控设备加速退化试验方法，其特征在于，在根据所述失效时间数据对应的数据分布特征选取数据分布模型之后，还包括以下步骤：

计算所述数据分布模型的总体矩，并计算所述仪器电控设备试验样品的样本矩；

根据所述总体矩和样本矩对所述数据分布模型进行参数估计。

6.根据权利要求1所述的仪器电控设备加速退化试验方法，其特征在于，在根据所述失效时间数据对应的数据分布特征选取数据分布模型之后，还包括以下步骤：

获取所述数据分布模型对应的累积分布函数；

对所述累积分布函数进行线性变换；

根据线性变换后的累积分布函数的斜率对所述数据分布模型进行参数估计。

7.一种仪器电控设备加速退化试验系统，其特征在于，包括：

预测模块，用于获取仪器电控设备试验样品的原始性能参数，根据所述原始性能参数对仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测；

获取模块，用于根据预测的性能参数保质期设置加速退化试验条件，然后对仪器电控设备试验样品进行加速退化试验，获取仪器电控设备试验样品性能退化量到达预设失效阈值所对应的失效时间数据；

分析模块，用于获取多个预选数据分布模型；根据如下公式计算各个预选数据分布模型的误差指标参数：

式中，ρ_min为所述误差指标参数，E_min为误差极差的最小值，Cv_min为误差变异系数的最小值，为误差方差的最小值，D_min为最大偏差的最小值，σ_F为函数平均误差的最小值，σ_f为概率密度函数平均误差的最小值，K为预选数据分布模型的数量；

将误差指标参数最小的预选数据分布模型作为数据分布模型；

对所述数据分布模型进行拟合优度检验，若检验合格，根据所述数据分布模型对所述失效时间数据进行可靠性分析；确定满足可靠性条件的失效时间数据作为试验样品的试验数据。