[发明专利]集成电路动态输出性能测定方法、装置和系统

说明书

本发明涉及一种集成电路动态输出性能测定方法，包括以下步骤：获取数字通道板的各个目标基准比较电压值和数字通道板对应输出的集成电路的各个目标电平输出错误率；其中，目标电平输出错误率与目标基准比较电压一一对应；根据各个目标基准比较电压值和各个电平输出错误率，得到集成电路的基准比较电压动态分布；根据基准比较电压动态分布确定集成电路输出性能。上述的集成电路动态输出性能测定方法将根据多个目标基准比较电压值和多个电平输出错误率得到基准比较电压动态分布(即基准比较电压和错误率的关系)，根据基准比较电压动态分布可以得到集成电路的噪声容限、误码率等参数，测试结果更加准确。

技术领域

本发明涉及集成电路测定技术领域，特别是涉及一种集成电路输出电平测定方法、装置及系统。

背景技术

随着集成电路技术的发展，集成电路功能越来越复杂，集成度、工作频率越来越高以及工作电平越来越低，这将导致集成电路对噪声的容限越来越小。然而，集成电路在实际使用过程中，当外界条件发生变化时(例如集成电路的测试电路改变)，集成电路输出电平可能也会发生改变(可能会出现实际输出电平与理论不符)，当集成电路输出电平发生改变时，集成电路的输出性能(例如噪音容限以及误码率)也将发生变化。可见，精确的测定集成电路动态条件下的输出电平状态就显得尤为重要。

目前，常用静态测定方法来测定集成电路的输出电平，具体过程为将需要进行测定的集成电路接入自动测试系统的数字通道板中，然后将集成电路的管脚置于高电平输出和低电平输出两个状态(即给需要测定的集成电路输入相应的驱动信号)，分别测定每个状态下电路输出的电平，这种测定方法没有考虑外界寄生电容和电感对器件输出的影响，测定条件与实际条件相差较大，致使输出电平测定结果不准确，从而导致集成电路的性能测定不准确。

发明内容

基于此，有必要针对目前的静态测定方法测定结果不准确的问题，提供一种集成电路动态输出性能测定方法、装置及系统。

一种集成电路动态输出性能测定方法，所述集成电路接入至自动测试系统的数字通道板中，所述方法包括以下步骤：

获取所述数字通道板的各个目标基准比较电压值和所述数字通道板对应输出的所述集成电路的各个目标电平输出错误率；其中，所述目标电平输出错误率与所述目标基准比较电压一一对应；

根据各个所述目标基准比较电压值和各个所述电平输出错误率，得到所述集成电路的基准比较电压动态分布；

根据所述基准比较电压动态分布确定所述集成电路输出性能。

一种集成电路动态输出性能测定装置，用于自动测试系统的数字通道板，包括：

信息获取模块，用于获取所述数字通道板的各个目标基准比较电压值和所述数字通道板对应输出的所述集成电路的各个目标电平输出错误率；其中，所述目标电平输出错误率与所述目标基准比较电压一一对应；

基准电压动态分布模块，用于根据各个所述目标基准比较电压值和各个所述电平输出错误率，得到所述集成电路的基准比较电压动态分布；

输出性能确定模块，用于根据所述基准比较电压动态分布确定所述集成电路输出性能。

一种集成电路动态输出性能测定系统，包括：自动测试系统的数字通道板和计算机设备；

所述自动测试系统的数字通道板用于固定集成电路，并输出基准比较电压值和集成电路的电平输出错误率；

所述计算机设备用于执行所述的集成电路电路动态输出性能测定方法。