[发明专利]集成电路动态输出性能测定方法、装置和系统有效
申请号: | 201711353462.1 | 申请日: | 2017-12-15 |
公开(公告)号: | CN107861055B | 公开(公告)日: | 2020-04-07 |
发明(设计)人: | 师谦;陈辉;肖庆中 | 申请(专利权)人: | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 周清华 |
地址: | 510610 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 集成电路 动态 输出 性能 测定 方法 装置 系统 | ||
1.一种集成电路动态输出性能测定方法,所述集成电路接入至自动测试系统的数字通道板中,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
获取所述数字通道板的各个目标基准比较电压值和所述数字通道板对应输出的所述集成电路的各个目标电平输出错误率;其中,所述目标电平输出错误率与所述目标基准比较电压值一一对应;
根据各个所述目标基准比较电压值和各个所述目标电平输出错误率,得到所述集成电路的基准比较电压动态分布;
根据所述基准比较电压动态分布确定所述集成电路输出性能。
2.根据权利要求1所述的集成电路动态输出性能测定方法,其特征在于,在获取所述数字通道板的各个目标基准比较电压值和所述数字通道板对应输出的所述集成电路的各个目标电平输出错误率的步骤中,包括:
调节所述数字通道板的基准比较电压值,并获取所述数字通道板对应输出的所述集成电路的电平输出错误率;
若当前基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于目标电平输出错误率,则判定当前基准比较电压值为所述目标基准比较电压值。
3.根据权利要求2所述的集成电路动态输出性能测定方法,其特征在于,所述基准比较电压值包括高电平基准比较电压值,所述目标基准比较电压值包括第一高电平目标基准比较电压值、第二高电平目标基准比较电压值以及第三高电平目标基准比较电压值;所述目标电平输出错误率包括第一目标电平输出错误率、第二目标电平输出错误率以及第三目标电平输出错误率;
在调节所述数字通道板的基准比较电压值,并获取所述数字通道板对应输出的所述集成电路的电平输出错误率;若当前基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于目标电平输出错误率,则判定当前基准比较电压值为所述目标基准比较电压值的步骤中,包括:
逐步增加所述高电平基准比较电压值,若当前高电平基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于所述第一目标电平输出错误率,则判定当前高电平基准比较电压值为所述第一高电平目标基准比较电压值;
若所述当前高电平基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于所述第二目标电平输出错误率,则判定所述当前高电平基准比较电压值为所述第二高电平目标基准比较电压值;
若所述当前高电平基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于所述第三目标电平输出错误率,则判定所述当前高电平基准比较电压值为所述第三高电平目标基准比较电压值。
4.根据权利要求3所述的集成电路动态输出性能测定方法,其特征在于,还包括:
根据所述第一目标电平输出错误率、第一高电平目标基准比较电压值、所述第二目标电平输出错误率、所述第二高电平目标基准比较电压值、所述第三目标电平输出错误率和第三高电平目标基准比较电压值,得到高电平基准比较电压动态分布。
5.根据权利要求2所述的集成电路动态输出性能测定方法,其特征在于,所述基准比较电压值包括低电平基准比较电压值,所述目标基准比较电压值包括第一低电平目标基准比较电压值、第二低电平目标基准比较电压值以及第三低电平目标基准比较电压值;所述目标电平输出错误率包括第一目标电平输出错误率、第二目标电平输出错误率以及第三目标电平输出错误率;
在调节所述数字通道板的基准比较电压值,并获取所述数字通道板对应输出的所述集成电路的电平输出错误率;若当前基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于目标电平输出错误率,则判定当前基准比较电压值为所述目标基准比较电压值的步骤中,包括:
逐步减少所述低电平基准比较电压值,若当前低电平基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于所述第一目标电平输出错误率,则判定当前低电平基准比较电压值为所述第一低电平目标基准比较电压值;
若所述当前低电平基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于所述第二低电平目标电平输出错误率,则判定所述当前低电平基准比较电压值为所述第二低电平目标基准比较电压值;
若所述当前低电平基准比较电压值对应的所述电平输出错误率等于所述第三低电平目标电平输出错误率,则判定所述当前低电平基准比较电压值为所述第三低电平目标基准比较电压值。
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