[发明专利]一种红外透镜面形的真空低温测试装置及其测试方法有效

专利信息
申请号: 201711339879.2 申请日: 2017-12-14
公开(公告)号: CN108444679B 公开(公告)日: 2019-11-29
发明(设计)人: 穆生博;宋俊儒;邢辉;金忠瑞;行麦玲;李洋 申请(专利权)人: 北京空间机电研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 11009 中国航天科技专利中心 代理人: 臧春喜<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 100076 北京市丰*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 红外透镜 平行光管 小孔光阑 测试工装 光源平台 密封窗口 干涉仪 千分表 载物台 真空罐 固连 测试装置 真空低温 测试 面形 对准 传统测试设备 真空低温条件 安装测试 面形变化 工装 载物 配合
【权利要求书】:

1.一种红外透镜面形的真空低温测试装置,其特征在于:包括干涉仪(1)、平行光管(2)、真空罐(3)、红外透镜组件(4)、测试工装(5)、载物台(6)、光源平台(7)、密封窗口(8)、小孔光阑(9)和千分表(10);

平行光管(2)一端与真空罐(3)端面固定连接,真空罐(3)中设有用于支撑的载物台(6),载物台(6)上安装有用于检测红外透镜组件(4)的测试工装(5),红外透镜组件(4)固定连接在测试工装(5)上并对准平行光管(2)轴线;

平行光管(2)另一端通过密封窗口(8)对准小孔光阑(9)一侧,小孔光阑(9)另一侧分别设有干涉仪(1)和千分表(10),小孔光阑(9)与光源平台(7)固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种红外透镜面形的真空低温测试装置,其特征在于:所述平行光管(2)口径大于红外透镜组件(4)通光口径。

3.根据权利要求2所述的一种红外透镜面形的真空低温测试装置,其特征在于:所述平行光管(2)的中心视场波像差不大于0.05λ,真空低温测试时,平行光管(2)的中心视场波像差变化量不大于0.005λ。

4.根据权利要求1所述的一种红外透镜面形的真空低温测试装置,其特征在于:所述真空罐(3)的真空度不低于10-3pa;低温测试时,真空罐(3)的温度低于-20℃。

5.根据权利要求1所述的一种红外透镜面形的真空低温测试装置,其特征在于:所述红外透镜组件(4)包括玻璃钢圆柱(41)、挡块(42)、镜框(43)和压圈(44);挡块(42)为实心立方体,镜框(43)为空心圆柱体;红外透镜粘接在镜框(43)中并通过压圈(44)轴向压紧,镜框(43)通过挡块(42)和两个玻璃钢圆柱(41)的配合固定连接在测试工装(5)上。

6.一种基于权利要求1~5任一项所述红外透镜面形的真空低温测试装置的测试方法,其特征在于:包括如下步骤:

S1,组装并根据自准直法调试红外透镜面形的真空低温测试装置;

S2,利用真空罐(3)模拟真空低温的测试环境,并调整红外透镜;

S3,利用干涉仪(1)分别测试真空低温和常温常压下红外透镜的面形;

S4,根据测试结果,计算真空低温下红外透镜的面形变化量。

7.根据权利要求6所述的一种红外透镜面形的真空低温测试装置的测试方法,其特征在于:所述S1中,先在常温常压下,对平行光管(2)进行标定,确定平行光管(2)中心视场,并确定干涉仪(1)的位置;再将红外透镜放置在真空罐(3)中,保持干涉仪(1)静止,调节红外透镜使得干涉仪(1)入射光经平行光管(2)和红外透镜反射后形成自准直光路;然后固定红外透镜。

8.根据权利要求6所述的一种红外透镜面形的真空低温测试装置的测试方法,其特征在于:所述S2中,先利用真空罐(3)模拟真空环境,当压强达标后,观察返回光聚焦点的位置△L1,复压后调整红外透镜的位置,将返回光点位置调整至-△L1;再对真空罐(3)抽真空,当真空度达标后,观察光路是否自准直,若是,则将真空罐(3)降温至预设温度,若否,则重新进行S2。

9.根据权利要求6所述的一种红外透镜面形的真空低温测试装置的测试方法,其特征在于:所述S3中,先将真空罐(3)处于预设的真空低温状态,调整干涉仪(1)的位置,使得光路自准直,测试此时红外透镜的面形M1,并记录此时返回光聚焦点所在的位置△L2;再将真空罐(3)回温回压至常温常压,调整红外透镜使得返回光聚焦点位于△L2处,测试此时红外透镜的面形M2

10.根据权利要求6所述的一种红外透镜面形的真空低温测试装置的测试方法,其特征在于:所述S4中,真空低温下红外透镜的面形变化量为ΔM=M1-M2

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