[发明专利]存储器测试装置及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及信息存储技术领域，具体涉及一种存储器测试装置及测试方法。

背景技术

存储器广泛应用于集成电路领域。衡量存储器性能的指标包括存储速度、存储容量、延迟时间等指标。

图1为传统技术中包括存储器电路10的示意图，其中存储器电路10包括存储阵列，当读/写控制器通过读/写控制端接收到读写控制信号时，需要经过地址码输入和片选确定存储阵列的地址，将输入/输出端接收到的数据存储至存储阵列。由于读/写存储器中的数据时共用一条总线(BUS)，因此需要在存储器电路中设置金属氧化物半导体(Metal Oxide Semiconductor，MOS)管作为控制开关，当有一组数据传输时，控制MOS管打开，数据开始传输，当该一组数据传输完成时，控制MOS管关闭，然后开始下一组数据的传输。但实际的数据传输并没有那么简单，而是经过放大器、多个选择器、反相器和先入先出队列(First Input First Output，FIFO)，最后才输出至用户界面上。也就是说数据传输时要经过很长的路线。

传统技术在存储器技术开发过程中，无法获知每组数据的传输情况，需要通过测试才能了解数据是否传输完毕，因此降低了研发人员的工作效率。

发明内容

本发明提供了一种存储器测试装置及测试方法，以至少解决现有技术中的以上技术问题。

作为本发明的一个方面，本发明实施例提供一种存储器测试装置，包括：

环形振荡电路，配置为从存储器电路接收数据处理开始信号，并且响应于所述数据处理开始信号发生振荡信号；以及从所述存储器电路接收数据处理结束信号，并且响应于所述数据处理结束信号停止发生所述振荡信号；以及

计数电路，配置为接收所述环形振荡电路输出的振荡信号，计算在所述振

荡信号持续的时间内，所述振荡电路中的脉冲周期数，以根据所述脉冲周

期数确定所述存储电路处理数据的时间。

结合第一方面，本发明第一方面的第一实施方式中，所述环形振荡电路包括：

多个串联连接的反相器，其中所述反相器的数量为奇数；以及

逻辑与电路，所述逻辑与电路的一个输入端接收所述数据处理开始信号和所述数据处理结束信号，所述逻辑与电路的输出端连接到多个所述反相器中第一个反相器的输入端，以及多个所述反相器中的最后一个反相器的输出端连接所述逻辑与电路的另一个输入端。

结合第一方面，本发明第一方面的第二实施方式中，所述计数电路包括：

除频电路，配置为接收所述环形振荡电路发送的振荡信号，并将所述振荡信号除频处理；以及

二进制计数器，配置为将所述除频后的振荡信号进行计时。

结合第一方面，本发明第一方面的第三实施方式中，所述数据处理开始信号为用于表示所述存储器电路开始执行数据处理的信号；以及所述数据处理结束信号为用于表示所述存储器电路结束执行数据处理的信号。

结合第一方面，本发明第一方面的第四实施方式中，所述数据处理包括对数据的存储操作或对数据的读取操作。

结合第一方面的第一实施方式或第一方面的第二实施方式或第一方面的第三实施方式或第一方面的第四实施方式，所述环形振荡电路生成的振荡信号和所述存储器电路输出的数据处理信号通过一选择器选择输出。

作为本发明的第二方面，本发明实施例提供一种存储器测试方法，包括：

从存储器电路接收数据处理开始信号，并且响应于所述数据处理开始信号发生振荡信号；

接收所述环形振荡电路输出的振荡信号，计算在所述振荡信号持续的时间内，所述振荡电路中的脉冲周期数；

从所述存储器电路接收数据处理结束信号，并且响应于所述数据处理结束信号停止发生所述振荡信号；以及

根据所述脉冲周期数确定所述存储电路处理数据消耗的时间。结合第二方面，本发明第二方面的第一实施方式中，计算所述振荡信号持续的时间，包括：

接收所述环形振荡电路发送的振荡信号，并将所述振荡信号除频处理；

将所述除频后的振荡信号进行计时。

结合第二方面，本发明第二方面的第二实施方式中，所述数据处理开始信号为当所述存储器电路开始接收数据时产生的信号。

结合第二方面，本发明第二方面的第三实施方式中，所述数据处理包括对数据的存储操作或对数据的读取操作。