[发明专利]基于液晶取向技术的光学偏振防伪薄膜及检验方法

权利要求书

1.一种基于液晶取向技术的光学偏振防伪薄膜，其特征在于：从下到上依次包括薄膜基底(1)、反光膜(2)、取向膜(3)、液晶膜(4)和保护膜(5)。

2.根据权利要求1所述的基于液晶取向技术的光学偏振防伪薄膜，其特征在于：所述取向膜(3)是一层诱导液晶分子定向排列的化学材料。

3.根据权利要求1所述的基于液晶取向技术的光学偏振防伪薄膜，其特征在于：所述液晶膜(4)是一层液晶分子材料，液晶分子被图案化取向。

4.根据权利要求1所述的基于液晶取向技术的光学偏振防伪薄膜，其特征在于：防伪图案标识转化为光的偏振信息。

5.根据权利要求1所述的基于液晶取向技术的光学偏振防伪薄膜，其特征在于：防伪图案标识转化为液晶材料上液晶分子的不同取向。

6.一种基于液晶取向技术的光学偏振防伪薄膜的检验方法，其特征在于：偏振片6置于如权利要求1所述的防伪薄膜上方，眼睛(7)位于偏振片(6)上方观察，可看到隐藏的防伪图案标识。

7.根据权利要求6所述的基于液晶取向技术的光学偏振防伪薄膜的检验方法，其特征在于：自然光经过偏振片(6)后变成线偏振光，并向下透过保护膜(5)，再经过液晶膜(4)；随后被反射膜(3)反射，再一次经过液晶膜(4)、保护膜(5)和偏振片(6)。

8.根据权利要求7所述的基于液晶取向技术的光学偏振防伪薄膜的检验方法，其特征在于：所述液晶膜(4)的液晶分子被图案化取向，光经过有图案的区域时偏振态发生改变，其余部分偏振态不发生改变。

9.根据权利要求6所述的基于液晶取向技术的光学偏振防伪薄膜的检验方法，其特征在于：旋转所述偏振片(6)，可观察到不同的图案。